реклама на сайте
подробности

 
 
> Усовершенствование китайского зарядного от мобилки
kt368
сообщение May 18 2012, 05:32
Сообщение #1


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 454
Регистрация: 13-10-10
Из: Киев
Пользователь №: 60 135



Здравствуйте! Хочу улучшить КПД китайской зарядки от мобилки. Схема на двух транзисторах, схема примерно такая, они все примерно одинаковые. При нагрузке уже в 1 Вт высоковольтные транзистор очень ощутимо греется. Начал гонять схемку в микрокапе, дошел до такой схемы (вложение). В микрокапе при нагрузках в 3...100 Ом и выходном напряжении около 5,6 В на мощном транзисторе выделяется 0,1...0,2 Вт, при этом частота преобразования 20...50 кГц (в зависимости от нагрузки, с уменьшением сопротивления нагрузки частота повышается). Сердечник E16 N87, зазор 0,4 мм.
В реале собранная эта схема при выходной мощности в 1 Вт довольно сильно греет транзистор, ну уж ни как не 0,1...0,2 Вт. Да и частота преобразования без нагрузки - около 100 кГц, при нагрузке в 20 Ом - повышается до 300 и выше кГц. В чем может быть ошибка? Неправильно моделировал или, может что-то с трансом (например) не так...Основная идея в моей схема была уменьшить время открывания и закрывания ключевого транзистора Q1 за счёт введения интересной ОС на элементах C9,D11,D10,R10,D7.

З.Ы. немагнитный зазор - это же для Ш-образного сердечника зазор в средней его "ножке", которая помещается внутрь каркаса?

Заранее спасибо.
Эскизы прикрепленных изображений
Прикрепленное изображение
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 22nd July 2025 - 07:11
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01354 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016