To amitrofanov:
Спасибо большое за внимание.
Вот скриншот с одного из проектов в CST.

Геометрически все очень просто. Волноводы квадратного сечения 10 мкм*10 мкм. Длина волны в вакууме 10.6 мкм. Важно, что между материалом волноводов и материалом окружающей среды очень малый контраст: delta n= 0.03, тогда как n волновода = 3.5 Такой малый контраст обеспечивает одномодовость волновода (без учета поляризации) при достаточно большой апертуре. При этом отношение волнового числа вдоль волновода и поперек – около 11.
Ограничить (сверху?) количество генерируемых элементов – это интересно. Но, вопрос, как они распределятся по всему телу? Ведь автоматический мешер, когда генерирует начальную сетку, не знает распределений полей и то, как быстро они меняются вдоль каждой из координат в отдельности. Поэтому, вероятно, частота узлов в направлении вдоль волновода и поперек волновода будет одна и та же и будет определяться модулем полного волнового вектора в волноводе w*n/c? Если так, то этот вариант не подходит.
«Критерий начальной сетки можно взять не как Lambda*0.333 (в диэлектрике), а как Lambda*0.5, (или в воздухе).»
При такой грубой сетке вдоль оси волновода, вероятно, получится результат, мало имеющий отношение к реальности. Вы предлагаете использовать расчеты, полученные на такой сетке, для последующей адаптации сетки, которая уже учтет различия по градиентам полей в разных направлениях?

> Какие пределы плотности - нижние или верхние?
И верхние тоже. Кликаем на объект, меш-операции, максимальная длинна элемента в мм. Или максимальная длина поверхностного треугольника.
И количество элементов на объект тоже огриничивается, чтобы на каком-нибудь винтике с неправильной формой не застопорился. И устанавливается начальное разрешение сетки для объекта. Например, для interdigital структур на СВЧ надо не забыть вручную задать поменьше, иначе конденсаторы просто пропустит...
есть и адаптивная подстройка по заданному скин-слою.
Кроме того есть и глобальные настройки допусков при мешировании.

>Причем, что важно, только по двум их трех направлений.
С этим сложнее. Видимо, придется либо играться с настройками по скинслою, либо клеить из кусков, не объединяя в один объект.
На сколько я помню, на 11 версии ребята с BSTO пленками (epsilon~700) именно в этом месте имели адские проблемы, т.к. им надо было плотность раздельно задавать по координатам.
Вообще, AFAIK, вся суть то в том, что FEM тем точнее, чем равнобедреннее тетраэдр. А анизотропная плотность разбиения приводит к косым тетраэдрам, из-за чего будет получаться чушь в решении.

Думаю, вас Driven Modal солвер вполне устроит. Он как раз хорошо и быстро на основной моде такие вещи считает.

Сообщение отредактировал Hale - Jan 20 2013, 12:59

Hale,
спасибо за объяснения и совет.
Поставлю HFSS и поиграюсь, что получится.

ну, он по своей логике сначала генерит вероятную сетку, это одну секунду займет, а потом раз 10(сколько закажете) уточняет ее с учетом распределения поля в предыдущем шаге. Так, на 10 шаге в резонаторах прямо видно где пучности прямо по сетке. Все это автоматизировано и критерий остановки - сходимость S-параметров. (ну или сами себе решите, когда его остановить... для меня это максимальный объем памяти)
После этого по найденнгой сетке начинается свипирование.
Естественно, если вы предполагаете расчет в нескольких полосах, то задачку лучше разбивать на диапазоны. Для одного проекта можно сразу задать несколько начальных частот и свипов для их мешей. Потом решения объедините из кусков на одном графике

Сообщение отредактировал Hale - Jan 22 2013, 06:06

... или сделать зависимые сетки. Например, если Вы считаете полосой фильтр на связанных резонаторах, то первая сетка строится для первого Fmesh1 (близкого к 1му резонансу), а вторая зависимая от первого mesh, подстраивается по другой частоте адаптивного свопирования Fmesh2. Тем самым экономится время генерирования новой сетки для другой частоты Fmesh (кол-во проходов можно взять меньше при той-же точности). Но это зависит от добротности Frez[i].

Че-то мои вопросы ставят в тупик общественность, но может сейчас повезет.
Как нарисовать изменения с частотой суммы углов при которых ДН в данной плоскости имеет заданный уровень (-3дБ, например).
В идеале не только от частоты, а и в различных заданных плоскостях.

Только встроенными функциями, похоже, никак. Хотя, если знать заранее количество лепестков и хотя бы ориентировочно пределы углов, в которых гарантированно находится каждый, можно было бы суммировать результаты нескольких XWidthAtYVal в каждом X поддиапазоне.
Но, это "если знать" ...

ХА! Этот вопрос нас в тупик не поставит! Как раз то, чем я сейчас занимаюсь, и судя по всему - никак.
Выделяем максимум на диаграме gain*(gain>(max(gain)-xdB)), водим мышкой по отрисованному клину и вбиваем значения в Эксель.
Ну ладно, мы народ не гордый, лишь бы считало быстро.

Вот я тоже надеялся, что сделают функциональные зависимости от частоты (а еще лучше - мощности) mu, epsilon, sigma и т.п. в материалах. А как нам на семинаре сказали, в 14 версии так и не реализовали. Завтра, с великими благодарностями к администрации, буду пробовать 15 версию.

Сообщение отредактировал Hale - Jan 23 2013, 14:18

Частотную зависимость то можно в HFSSе создать для параметров материалов - это как раз не проблема. Посмотрите в Help`е раздел "Defining Frequency-Dependent Material Properties" или введите в поисковике хелпа "Set Frequency Dependency". Там Вам и пользовательские частотные зависимости и модели Дебая. А вот как задать зависимость параметров материалов (тех же mu, epsilon, sigma ... ) от мощности сигнала или напряженности поля чтобы рассчитывать нелинейные эффекты - пока не знаю. Может кто-то делал функциональную зависимость свойств тех же материалов от переменных пост-процессора (Freq,OP, ... ) ?

Не, ёксель это не труъ.
В общем чтобы посчитать косоглазие ДН выраженной в дБ по уровню -3 нужна формулка: 2*XAtYVal(dB20normalize(rETotal), -3 )+XWidthAtYVal(dB20normalize(rETotal), -3 ) . Соответственно это же можно прописать и в оптимизаторе, просто и удобно. Да, конечно, надо знать где находится лепесток и вводить соотв. поправку руками , либо, например, можно вычесть положение его максимума аналогичным способом, если не хочется вводить руками.

Это не частотная зависимость (функциональная, в всмысле. конечноя про нее). Это таблица.
Интересует ведь функция от частоты. типа mu(2,1)=(g*Ms)*Freq/((g*H_bias)^2-Freq^2). Хотя, дефакто, mu, например, запрограммировано "правильно" (что, однако никак не отражено в доках), DH - совсем непонятно как запрограммировано и интересно было бы его ручками задавать...
Ну, равно как и более тонкие особенности материалов... С нелинейностью конечно так в лоб поступать нельзя, но хотя-бы простую апроксимацию функционально получить можно было бы.


ой, и точно, оригинально. возьму на вооружение

Сообщение отредактировал Hale - Jan 25 2013, 03:55

В такой штуке есть одна фишка:
Если в переменных вручную задавать диапазон углов для вычисления ширины лепестка, то normalize при поиске пронормирует кривую к максимуму только в пределах этого диапазона, а не к максимуму всей ДН. Т.е. все вычисленные ширины будут нормированы, в общем случае, совершенно по-разному.
Хотя при использовании Add Trace Characteristics при точно таком же задании углов все будет нормированно к единому максимуму всей ДН.

а если там не normalize("что-то"), а "что-то"/max"что-то" (rEToltal/MaxrEToltal, например) ?

Именно так и приходится делать, типа: XWidthAtYVal(dB(DirTotal/PeakDirectivity), -3)*180/pi
Поэтому это вовсе и не "проблема ", а всего лишь "фишка ".

Нелинейность от мощности в HFSS не имеет смысла для реализации, так как в этом случае надо ликвидоровать возможность изменять значения для портов и делать co-simulation Designer-HFSS.

Если смотреть на физику, то нелинейные (от мощности) материалы требуют совершенно другого математического расчета.

Нелинейность по частоте реализована вполне разумно, так как вы можете заранее подготовить свою линейность в Excel и после загрузить зависимость в dataset и использовать данный dataset для задания нелинейности.