Ну на изучение CST я времени немало потратил. И на высоких частотах (>10 ГГц) у него расхождение с MWO присутствует. Хотя делаются настройки все, "как доктор прописал": автоматическое задание портов в меню Macros, не менее 20 для максимального числа проходов адаптивного меша и т.д. И получается практически один в один совпадение характеристик, посчитанных T- и F- сольверами. Т.е., исходя из Вашей логики, я некорректно задаю модель, потому что настройки сольверов, очевидно, корректные (совпадение результатов при решении разными методами в пределах CST). Однако, модель задается теми же методами, что и для относительно низкочастотных фильтров, и модель микрополоскового фильтра - это все-таки не модель корабля, чтобы можно было сделать какие-то грубые просчеты, там в принципе не в чем ошибиться. Я думаю, здесь дело в более тонких эффектах - MWO учитывает толщину проводников только при вычислении потерь, например, тогда как CST учитывает токи, текущие по торцам проводников и т.д.

Странно, всегда считал, что полное масштабирование модели по частоте приводит фактически только к замене Кило- на Тера- при выводе результата.
Едва ли в коде солвера существуют некие поправочные коэффициенты для учета именно очень высоких частот. Хотя... как знать.
Но вот если решения инт. и диф.методами в CST, полностью совпадая между собой, систематически и заметно отличаются от измерения, что мешает вам, как легальному пользователю, обратиться в законную и оплаченную тех.поддержку за помощью?

Я говорил, что результаты отличаются у MWO и CST, а не у CST и измерений. Я сравнивал результаты моделирования с измеренными характеристиками макетов фильтров нижней части СВЧ диапазона, а также с характеристикой, что мне предоставил Mikhailrt. Результаты вполне адекватные. Более высокочастотные фильтры только изготавливаются. Может, ближе к истине окажется как раз CST, посмотрим. Кстати, может это и не с частотой связано. Просто для фильтров разных частот применяются разные подложки. Соответственно, меняется отношение ширины 50-Ом линии к толщине подложки и т.д.
P.S. Лицензия на CST не включает в себя пожизненную техподдержку, за неё каждый год нужно платить дополнительную и весьма немалую сумму

Вы можете ввести в программу модель, электрические характеристики которой достаточно просто описываются математикой. Затем можно сравнить результаты моделирования и математики, и сделать вывод как точно считает симулятор.
Результат изготовления только тогда можно сравнивать с расчетной моделью, когда технология изготовления изделия обеспечивает требования по допускаемым отклонениям. В микрополосковых фильтрах диапазона 5...15 ГГц изменение даже одного из размеров на 1 мкм оказывает уже заметное, а порой и существенное, влияние на выходную характеристику. Что можно говорить о совпадении результатов моделирования и изготовления, если нынешние технологи и конструктора даже не знают величину допуска на подтраву. И что можно говорить о совпадении, если этот допуск устанавливают от 5 до 10 мкм. Плюс неопределенные параметры подложки, ее анизотропность... Поэтому изготовленный фильтр разваливается, смещается... Но симулятор здесь нипричем.
Нужно изначально так проектировать и расчитывать фильтр, чтобы хоть в чем-то ослабить влияние технологии на параметры фильтра.
Dunadan, узнайте, пожалуйста, у Вашего изготовителя допуска. Если они подходящие, мы все рванем к нему и засыплем заказами.

и в нагрузку еще разброс параметров материалов, процессов напыления и травления и пр. технологических вещей.....все неприятности полезут при количестве изделий порядка сотен


PS: САПР только инструмент, а машина дура ее и обмануть можно

Что за производитель - мне неведомо. Начальство сообщило, что нужно спроектировать микрополосковые фильтры такие-то и такие-то, допустимый зазор - 3 мкм. С меня проект и .dxf файлы.

А еще, например, ε и tgδ ВЧ диэлектриков приводятся для частоты 1МГц, а что с ними на других частотах, тем более гигагерцах, - остается только догадываться...

А вы делаете монте-карло анализ с учетом этих допусков?

Да. Все модели стараюсь делать полностью параметризованными, так что любой вид анализа - без проблем.

Только надо учитывать, что технология изготовления микрополоскового фильтра воздействует на весь фильтр целиком, а не на отдельно взятый резонатор.

Там по гистограммам надо смотреть, что наиболее оптимально получается. Иногда фильтр не с наилучшей характеристикой с учетом разброса дает больший выход годных, чем лучший случай, но с высокой чувствительностью к допуску.

Dunadan спасибо за картинку, такой лаконичной информации о моделировании в разных САПРах тяжело где-то еще найти.

Сообщение отредактировал Mikhailrt - Dec 10 2012, 06:33

В этом посте ранее приводил значения рассчитанных и замеренных характеристик фильтра

День добрый!
Ребята подскажите как правильно снять АЧХ такого фильтра.

При подпайке SMA разьемов, и подключения через короткие кабеля к анализатору , естественно требуемую АЧХ увидеть
не удалось, все расползлось от паразитный емкостей. Эти фильтры только в схеме что ли можно проверить?

Рассчитывал фильтр в МWO (полученный результат - красная кривая, синяя - прикидка в iFilter),
изготавливал с помощью фоторезиста. Материал Neltec e=2.45, td=0.0016, h=0.787mm, t =0.035mm.




Спасибо!

Я обычно подпаиваю полужесткие короткие кабели (центральную жилу на полосок, оплетку - на землю) с SMA на другой стороне, далее просто подключаюсь кабелями скалиброванными к анализатору цепей...
До 10-15ГГц обычно такой метод работает. Если выше, то надо закладывать на макетку и разъемы сразу...