Всем привет! Есть вопрос.
Изучая различные стандарты DFT, пришел к мнению, что IEEE 1500 (Wrapping core + scan logic) не замещает, а лишь дополняет давно известные IEEE 1149.1+1149.6 (JTAG Tap + boundary scan). Причем, получается что надо делать и то и другое, поскольку с одной стороны JTAG - стандарт де факто, и при отладке печатных плат просто необходим, а с другой стороны Internal Scan так же необходим при отбраковке чипов на заводе. Но если делать и то, и другое, получается что вокруг Core создается двойной Wrapper из управляющей логики, что не есть хорошо при вытягивании perfomance, т.к. на путь сигналов In2Reg и Reg2Out накладываются дополнительные задержки.
Отсюда возникает вопрос - можно ли как то совместить тестовую логику вокруг портов IO для обоих стандартов (1500 и 1149.6)? Т.е. я хочу один wrapper сразу и для internal scan и для boundary scan.

Вручную - уверен что можно, достаточно, к прмеру, модифицировать цепочку BSR управляющими сигналами Scan. Вопрос именно в стандартном маршруте Cadence/Synopsys, т.е. чтобы на выходе обязательно была автоматизированная проверка соответствия стандартам.