Добрый день.
Помогите разобраться как проводить калибровку VNA для невстраиваемого двухпортового устройства с большими потерями. В качестве калибровки использую TRL набор. Недостаток данного подхода заключается в том, что TRL калибровка не учитывает потери на изоляцию (т.е параметр S12 определяется неточно). В моем случае параметр |S12| очень мал, а мне нужно точно его замерить. В наличии есть PNA-L от Agilent. Читал, что в данном случае надо проводить калибровку на изоляцию (forward and reverse isolation). Даст ли результат следующий метод: после проведения TRL калибровки измерить оснастку с мерами LOAD (т.е. при использовании импеданса Z0), поставленных в сечении в котором измеряется устройство?

Сообщение отредактировал Stefan1 - Mar 20 2015, 07:17

Результата не будет. По завершении калибровки прибор сделает коррекцию только по полученным при калибровке результатам. А меры Вы же собираетесь измерять после... Посмотрите внимательно, может в приборе все-таки есть возможность выбрать измерение двух нагрузок load на последнем шаге?
Если у вас есть математика, можете вручную учесть измерения нагрузок load при коррекции.



Сообщение отредактировал Olesia - Mar 24 2015, 05:48

-

Сообщение отредактировал Olesia - Mar 24 2015, 05:45

В приборе вроде бы такая возможность есть, но почему-то у меня никак не получается сделать так, чтобы эти измерения "вошли" в калибровку.
Про обработку результата после проведения TRL калибровки я писал в соседней ветке "Rf & Microwave Design" в теме про TRL калибровку: http://electronix.ru/forum/index.php?s=&am...t&p=1323917, Вы имеете ввиду тоже самое или что-то более глобальное?

P.S. Можно эту тему перенести в тему про TRL калибровку.

Сообщение отредактировал Stefan1 - Mar 24 2015, 06:22

Можно перенестись, можно остаться... Вы ж автор А какой прибор N5230C PNA-L? Про математику: Имелась ввиду более глобальная математика: когда на приборе Вы только снимаете "сырые" измерения мер и DUTa, а всю коррекцию делаете в мат. программе. Потом, самостоятельно.

Плюс - непонятно, устройства вроде "с большими потерями", а "|S12| очень мал..." Это как? В каких величинах? в дБ и разах соответственно?

Посмотрела help. Надо пошарить в CalKitEditor http://na.support.keysight.com/pna/help/la...als/TRL_Tab.htm и посмотреть, что там приписано для изоляции и приписать.

Сообщение отредактировал Olesia - Mar 24 2015, 09:50

Да, прибор N5230C PNA-L.
Такой математики нету.

Если DUT близок по свойствам к к.з. При этом |S12|=-30 дБ.

Мне кажется, что при плохом коэффициенте отражения (близок к КЗ) нет смысла выкалибровывать изоляцию. На погрешности рассогласования наберете больше, чем выкалибруете. Это раз. А два, то что при уровне 30 дБ, выкалибрована или нет изоляция - особого значения иметь не будет. Изоляция - это уровень собственных шумов приемников. Даже если для Вашего прибора это -100 дБм. Предположим вы работаете при уровне 0 дБм, сигнал будет на уровне -30 дБм. Там до уровня шумов - очень далеко. Нормально должно быть все и без изоляции.

Сообщение отредактировал Olesia - Mar 24 2015, 10:30

Понятно, а может быть Вы мне тогда подскажите как откалиброваться в ситуации, когда надо убрать влияние микрополосков оснастки и оставить только внутрикорпусное взаимодействие? Т.е. коаксиальные кабели от PNA подходят к измерительной оснастке на микрополосках, амикрополоски подходят к корпусу транзистора с двух сторон на его выводы. При этом микрополоски влияют друг на друга. Мне же нужно измерить |S12| без влияния этих микрополосков. Как тут лучше поступить?

Сообщение отредактировал Stefan1 - Mar 24 2015, 11:57

Если речь о той оснастке, что показана в прошлой теме, то, по моему мнению, хорошо отделаться от ее влияния у Вас не получится. И калибровка на изоляцию ничего не даст. Остальное в лс.