реклама на сайте
подробности

 
 
5 страниц V  « < 3 4 5  
Reply to this topicStart new topic
> TRL калиброка на анализаторе цепей N5230C PNA-L, измерение плат с внешними цепями согласования транзистора
MePavel
сообщение Apr 6 2015, 16:33
Сообщение #61


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 188
Регистрация: 11-11-13
Из: Воронеж
Пользователь №: 79 150



Цитата(Stefan1 @ Apr 6 2015, 10:15) *
А разве deembeding микрополосков до сечения вывода транзистора не даст того же самого?

Такой Deembeding исключит половинку оснастки без учёта взаимного влияния этих половинок друг на друга.
Цитата(Stefan1 @ Apr 6 2015, 10:15) *
Параметр S12 не зависит от того, вычитаются полоски при deembeding'е или нет из расчета (при этом S12 примерно равен 0,0015 на 2 ГГц). Или я Вас не правильно понял?

S12 зависит и от deembeding'а и от того, как взаимно расположены микрополосковые половинки оснастки друг относительно друга и ещё от многих других внешних факторов.

Go to the top of the page
 
+Quote Post
Stefan1
сообщение Apr 7 2015, 14:24
Сообщение #62


Местный
***

Группа: Участник
Сообщений: 414
Регистрация: 7-04-11
Из: Москва
Пользователь №: 64 187



Цитата(MePavel @ Apr 6 2015, 20:33) *
Такой Deembeding исключит половинку оснастки без учёта взаимного влияния этих половинок друг на друга.

Если я правильно понял, Вы предлагаете найти чистое влияние микрополосков оснастки друг на друга таким образом: сделал модель одной и второй микрополосковой оснастки. Затем делаю модель всей оснастки, вместе с корпусом. Исключаю из нее эти две микрополосковые оснастки, остается S12 в корпусе + S12 из-за влияния микрополосков друг на друга. И этот результат я сравниваю с результатом при расчете S12 чистого корпуса, без микрополосков. Таким образом, при вычитании одного из другого, я получу S12 из-за влияния микрополосков друг на друга. Таким образом, получается результат:
Прикрепленное изображение

где кривая "deembeding" - это вычитание микрополосковой оснастки из суммарного расчета с корпусом транзистора (с закороченными на фланец проволоками);
кривая "korpus_poloski" - это суммарный расчет микрополосков с корпусом транзистора;
кривая "korpus" - это расчет просто корпуса транзистора, без микрополосковой оснастки.

Видно, что влияние микрополосков друг на друга (S12(korpus_poloski) - S12(korpus)) все-таки есть, и его неплохо бы учесть при калибровке для измерения такого рода тестов.

Сообщение отредактировал Stefan1 - Apr 7 2015, 15:31
Go to the top of the page
 
+Quote Post
MePavel
сообщение Apr 7 2015, 16:53
Сообщение #63


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 188
Регистрация: 11-11-13
Из: Воронеж
Пользователь №: 79 150



Цитата(Stefan1 @ Apr 7 2015, 17:24) *
Если я правильно понял, Вы предлагаете найти чистое влияние микрополосков оснастки друг на друга таким образом: сделал модель одной и второй микрополосковой оснастки. Затем делаю модель всей оснастки, вместе с корпусом. Исключаю из нее эти две микрополосковые оснастки, остается S12 в корпусе + S12 из-за влияния микрополосков друг на друга. И этот результат я сравниваю с результатом при расчете S12 чистого корпуса, без микрополосков. Таким образом, при вычитании одного из другого, я получу S12 из-за влияния микрополосков друг на друга. Таким образом, получается результат:

Что-то похожее на правду. На 4 ГГц неучтённое взаимное влияние микрополосков оснастки завышает коэффициент передачи |S12| на четверть. Попробуйте делать калибровку на изоляцию.

Go to the top of the page
 
+Quote Post
Stefan1
сообщение Apr 8 2015, 06:17
Сообщение #64


Местный
***

Группа: Участник
Сообщений: 414
Регистрация: 7-04-11
Из: Москва
Пользователь №: 64 187



Цитата(MePavel @ Apr 7 2015, 20:53) *
Что-то похожее на правду. На 4 ГГц неучтённое взаимное влияние микрополосков оснастки завышает коэффициент передачи |S12| на четверть. Попробуйте делать калибровку на изоляцию.

Теперь изначальный вопрос задан более корректно, спасибо за помощь в понимании проблемы. Но в том то и дело, что не получается делать калибровку на изоляцию в ходе TRL калибровки. Может быть проведение ее после TRL калибровки даст результат в уточнении параметра S12 или же это так же не правильно?

Сообщение отредактировал Stefan1 - Apr 8 2015, 06:17
Go to the top of the page
 
+Quote Post
MePavel
сообщение Apr 8 2015, 18:03
Сообщение #65


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 188
Регистрация: 11-11-13
Из: Воронеж
Пользователь №: 79 150



Цитата(Stefan1 @ Apr 8 2015, 09:17) *
Но в том то и дело, что не получается делать калибровку на изоляцию в ходе TRL калибровки.

Можно измерить S-параметры корпуса, используя стандартную TRL-калибровку оснастки. А уж потом в симуляторе исключать ошибку коэффициента передачи. Если хочется максимально точно, то скорее всего без выводов математических формул не обойтись.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Stefan1
сообщение Apr 9 2015, 05:13
Сообщение #66


Местный
***

Группа: Участник
Сообщений: 414
Регистрация: 7-04-11
Из: Москва
Пользователь №: 64 187



Цитата(MePavel @ Apr 8 2015, 22:03) *
Можно измерить S-параметры корпуса, используя стандартную TRL-калибровку оснастки. А уж потом в симуляторе исключать ошибку коэффициента передачи. Если хочется максимально точно, то скорее всего без выводов математических формул не обойтись.

Понятно. Спасибо за помощь!
Go to the top of the page
 
+Quote Post
khach
сообщение Apr 9 2015, 09:51
Сообщение #67


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 3 439
Регистрация: 29-12-04
Пользователь №: 1 741



В пустом корпусе без кристалла связь вход-выход намного больше, чем в корпусе где стоит пассивный иммитатор кристалла (аттенюатор). Если сделать трехмерное моделирование то видно, что в пустом корпусе ЭМ волна намного сильнее вылазит пространственно и перекрывается с волной со второго вывода.
Go to the top of the page
 
+Quote Post

5 страниц V  « < 3 4 5
Reply to this topicStart new topic
2 чел. читают эту тему (гостей: 2, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 20th July 2025 - 13:17
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.02177 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016