Цитата(MePavel @ Apr 6 2015, 20:33)

Такой Deembeding исключит половинку оснастки без учёта взаимного влияния этих половинок друг на друга.
Если я правильно понял, Вы предлагаете найти чистое влияние микрополосков оснастки друг на друга таким образом: сделал модель одной и второй микрополосковой оснастки. Затем делаю модель всей оснастки, вместе с корпусом. Исключаю из нее эти две микрополосковые оснастки, остается S12 в корпусе + S12 из-за влияния микрополосков друг на друга. И этот результат я сравниваю с результатом при расчете S12 чистого корпуса, без микрополосков. Таким образом, при вычитании одного из другого, я получу S12 из-за влияния микрополосков друг на друга. Таким образом, получается результат:
где кривая "deembeding" - это вычитание микрополосковой оснастки из суммарного расчета с корпусом транзистора (с закороченными на фланец проволоками);
кривая "korpus_poloski" - это суммарный расчет микрополосков с корпусом транзистора;
кривая "korpus" - это расчет просто корпуса транзистора, без микрополосковой оснастки.
Видно, что влияние микрополосков друг на друга (S12(korpus_poloski) - S12(korpus)) все-таки есть, и его неплохо бы учесть при калибровке для измерения такого рода тестов.
Сообщение отредактировал Stefan1 - Apr 7 2015, 15:31