Цитата(CADiLO @ Apr 20 2015, 19:21)

Документ от SIMCOM здесь.
Испытания на холод и на воздействие влаги - это совершенно разные испытания, не имеющие друг к другу никакого отношения. Температурные испытания прокажут, правильно ли выбраны компоненты схемы и учтен ли температурный дрейф параметров. Испытания же на воздействие влаги покажут недостатки конструкции и сборки платы (в т.ч. некачественные флюс, промывку и лаковое покрытие, неверно выбранные зазоры и пр.). То, что изделие выдерживает кратковременное образование инея, мало о чем говорит. Здесь важна длительность воздействия влаги, а температура при этом чем выше, тем качественнее испытание.
Вопрос я задавал потому, что GSM-модуль в этом плане нужно рассматривать не как один компонент, а как набор отдельных компонентов, собранных на печатной плате.
Сообщение отредактировал MVJ - Apr 22 2015, 13:00