|
|
  |
MRAM в космосе |
|
|
|
Oct 13 2015, 14:59
|
Гуру
     
Группа: Свой
Сообщений: 2 198
Регистрация: 23-12-04
Пользователь №: 1 640

|
http://www.3d-plus.com/product.php?type=1&fm=37на jpl, по-моему, есть отчеты по тестам и даже мисиям кристаллы там те же самые еверспиновские, что и в пластмасовых дешевых корпусах у больших (8МБ) есть проблемы с защелкиванием - у той же 3Д есть апнота и спец микруха для борьбы меньшие - все ОК ну и кроме 3Д их корпусируют многие аэрокосмические фирмы - но немногих можно купить у нас ---------- ну и это - магнитное поле для нее вредно - то есть рядом с двиготелем, где быстро движется плазма ставить нельзя
|
|
|
|
|
Oct 18 2015, 04:58
|
Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 265
Регистрация: 30-11-05
Из: Омск
Пользователь №: 11 590

|
Цитата(yes @ Oct 13 2015, 20:59)  у больших (8МБ) есть проблемы с защелкиванием - у той же 3Д есть апнота и спец микруха для борьбы меньшие - все ОК ну наверное не с самим размером связано а с интерфейсом?
|
|
|
|
|
Oct 21 2015, 11:24
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 236
Регистрация: 4-07-05
Из: Подмосковье
Пользователь №: 6 521

|
Цитата(wangan @ Oct 18 2015, 07:58)  ну наверное не с самим размером связано а с интерфейсом? Не с интерфейсом, а с технологией изготовления и ее параметрами (кратко, например, тут). А уж большая она или маленькая и какой там интерфейс - не имеет особого значения. По поводу борьбы с этим явлением - тоже не все просто. По моему, до сих пор никто не исследовал надежность микросхем после возникновения в них "защелки". Все-таки, это ненормальный режим, приводит к локальным перегревам и всяким неприятностям, поэтому, вполне вероятно, влияет и на надежность и остаточный ресурс. А микросхема от 3D для борьбы с защелкой - а кто сказал что она сама не подвержена защелке? Наши конторы тоже делают такие микросхемы, и вроде даже они неплохо работают.
|
|
|
|
|
Oct 21 2015, 17:55
|
Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 265
Регистрация: 30-11-05
Из: Омск
Пользователь №: 11 590

|
Цитата(Sanyao @ Oct 21 2015, 17:24)  Не с интерфейсом, а с технологией изготовления и ее параметрами (кратко, например, тут). А уж большая она или маленькая и какой там интерфейс - не имеет особого значения. По поводу борьбы с этим явлением - тоже не все просто. По моему, до сих пор никто не исследовал надежность микросхем после возникновения в них "защелки". Все-таки, это ненормальный режим, приводит к локальным перегревам и всяким неприятностям, поэтому, вполне вероятно, влияет и на надежность и остаточный ресурс. А микросхема от 3D для борьбы с защелкой - а кто сказал что она сама не подвержена защелке? Наши конторы тоже делают такие микросхемы, и вроде даже они неплохо работают. да в курсе, я имел ввиду от ширины интерфейса чем от емкости, тем более в разговоре где вывода защищают внешней микрухой
|
|
|
|
|
Nov 2 2015, 09:05
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 236
Регистрация: 4-07-05
Из: Подмосковье
Пользователь №: 6 521

|
Цитата(novikovfb @ Oct 29 2015, 17:36)  3D исследовали и на защелку и на искажение данных, есть очень стойкие, есть не очень, обращайтесь к их дистрибьюторам (например, ПЭК). Я не имел в виду саму защелку. Речь идет об остаточном ресурсе схемы после возникновения одной, двух ... ста "защелок". Все-таки это нештатный режим работы, связанный с локальным протеканием значительных токов, что бесследно не проходит. Есть еще вопрос, сколько микросхема может проработать после возникновения "защелки" в состоянии с повышенным током потребления, пока автоматика не сообразит и не отключит ее. Например две секунды реакции автоматики - работает, четыре - уже сгорела. Сами 3D такой информации вроде не дают - только пороговые значения ЛПЭ для "защелки" или сбоев и иногда сечение.
|
|
|
|
|
Nov 5 2015, 20:13
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 236
Регистрация: 4-07-05
Из: Подмосковье
Пользователь №: 6 521

|
Это хорошо, если у Вас есть такие данные, подтвержденные сертификатом. Значение более 80 по пороговым ЛПЭ это очень неплохо, считается что можно применять практически везде, но ведь в космосе есть частицы и с более высокими ЛПЭ, правда их очень немного, и вероятность того, что они окажутся "в нужное время и в нужном месте" совсем невелика. Для некоторых "экзотических" заказчиков проводим испытания и при ЛПЭ около 100 МэВ*см2/мг. Действительно, если Вы берете микросхему определенного класса с гарантированной стойкостью - то тут вроде можно и не волноваться. но это деньги, и не малые. Если же выбирать просто "микросхему MRAM", то никто не гарантирует в ней отсутствие эффектов одиночных событий, в том числе "защелок" или вообще отказов. По некоторым MRAM опубликованы результаты с порогом по "защелке" (SEL) ниже 7(семь) МэВ*см2/мг. Поэтому и говорю, что выбирать нужно аккуратно. Не любая MRAM подходит для космоса.
По поводу остаточного ресурса после "защелок" - в нашей практике на испытаниях периодически встречается, что микросхемы живут несколько событий, иногда десятков событий возникновения SEL, потом умирают. И это, надо заметить, при довольно строгом ограничении тока потребления и небольшом времени реакции до отключения питания. В аппаратуре же, вся мощность источника может приложиться к микросхеме, в которой возник эффект, и тут уж как повезет.
|
|
|
|
|
  |
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|