Здравствуйте!

Подскажите пожалуйста по структурной схеме надежности, как считать интенсивность если в схеме есть элементы отказ которых не вызовет отказ прибора(схемы), но эти элементы не находятся в резерве и не являются резервируемыми
Все равно их интенсивности перемножать со всеми остальными в схеме для подсчета интенсивности отказа схемы в целом?, или можно их отбросить(точнее их интенсивность не учитывать)?

Заранее благодарен!

Если считать вероятность отказа, то не влияющие на отказ компоненты на эту вероятность не влияют
Интересно, что это за компоненты?

Могут быть всякие индикаторы-светодиоды.

это обынче кондеры диоды, они конечно откажут если с питанием будет беда, но если с питанием будет беда все откажет)

"обынче кондеры диоды" - это двухполюсники. И они могут в "отказе" быть либо короткозамкнутыми, либо в обрыве... И одно из этих состояний точно повлияет на все устройство в целом... Так что надо уточнить, что считать безопасным отказом... И кстати, если индикация важна - то и отказ индикатора - это отказ прибора...

продолжу фразу:
.... а если индикация неважна- то зачем ее вообще поставили?

Я к тому, что в грамотно спроектированном приборе нет неважных компонентов. Они могут присутствовать как опция сборки, например, для тестовых семплов, но не устанавливаются при продашене и, соответственно, не входят в расчет надежности.
Все что установлено- входит в расчет.

про ненужные детали- оно таки бывает. Вот у меня есть один прибор-так там один неподключенный ни к чему разъем просто прикручен в качестве мебели - он дырку в стене загораживает закрывает опциональное отверстие, давая искомый IP68 для всей коробки.

ИМХО вероятность отказа рассчитывают обычно исходя из того, что все внешние воздействия в пределах заданных величин, и учитывают только внезапные отказы самих компонентов (дефекты компонентов, их монтажа, износ компонентов). Поэтому "обычные кондеры диоды" по питанию необходимо включать в расчет с учетом их конечной надежности.
Можно не включать технологические компоненты, установленные в устройство и используемые только на этапе отладки, например, JTAG разъем, если его конструкция исключает замыкание между контактами в случае дефекта.

[quote name='novikovfb' date='Nov 10 2016, 10:27' post='1460787']
да, Вы правы, у меня просто интенсивности отказов всех компонентов дает наработку до отказа меньшую заданного
И я начала придумывать как уменьшить интенсивность взяв за основу положение в расчете наджености что в схеме без резервирования отказ любого компонента приведет к отказу изделия, пытаясь прикрутить что отказ конденров и диодов не может быть кроме как по питанию, ну а если будет отказ по питанию то все уже не актуально)

Хм, бредовая идея есть. Сам в теории надежности такого не видел, но меня только азам учили, вдруг такое можно делать:
Специально определите, что есть "надежность" в Вашем конкретном случае, может СТП можно выпустить для этого.
Например, можно указать, что такая -то функция может не работать и это не является отказом прибора, а приводит только к некоторому допустимому неудобству, и данный тип "непринципиальной для прибора неисправности" может быть устранен во время следующих регламентных работ.
И тогда нужно только выделить эти "неважные" узлы, любой отказ любой детали в которых не приведет к отказу изделия в целом. И исключить их из расчета.
Например- индикация на необслуживаемом оборудовании. Или цепи измерения дополнительных величин. Или цепи того, что неподключено во время штатной эксплуатации.

тут 2 выхода:
1. резервирование и другие способы структурного повышения надежности
2. облегченные режимы и обсуждение с калькодержателем ТУ увеличения наработки до отказа в облегченных режимах, если это не указано в ТУ.