|
Разработка бандгапа - поделитесь опытом |
|
|
|
Dec 3 2006, 19:24
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 79
Регистрация: 20-09-06
Пользователь №: 20 552

|
Господа, кто нибудь разрабатывал бандгапы в КМОП, поводил до массового производства? Поделитесь опытом.
- Делали ли подстройку рабочей точки и если да, то каким образом? Как подстраивать в массовом производстве и попасть на пик, если нет возможности температурного теста на потоке? - Какой реальной стабильности по температуре и точности удалось достичь? - Какое получилось реально напряжение пика? У меня симулятор выдает близко к 1,24В, т.е. как по учебнику, а в реальности тесты дают 1,18 В. Я в недоумении. Наверно модели биполярников недостаточно точны для бандгапа?
Сообщение отредактировал evi - Dec 3 2006, 19:25
|
|
|
|
|
Dec 4 2006, 15:14
|
Знающий
   
Группа: Свой
Сообщений: 621
Регистрация: 18-01-06
Пользователь №: 13 343

|
Ключевой аспект - стабильность технологии и качество (адекватность) моделей биполярных транзисторов. Если фаб из забугорных и уважаемых, то вышеозначенное чаще всего обеспечивается, и далее все определяется квалификацией разработчика. В этом случае процесс проектирования прецизионных аналоговых блоков с одной стороны типичен (т.е. схемотехнические решения должны учитывать и по возможности компенсировать неизбежные разбросы технологии, тщательная оптимизация размеров и режимов, в том числе с использованием статистических расчетов), с другой уникален (конкретные требования ТЗ, личный опыт и знания). Если требования не уникальны (скажем разброс абсолютного значения +/-5...10%, температурный дрейф 50...100 ppm/'C) то в массовом производстве подстройка не понадобится.
- Какое получилось реально напряжение пика? У меня симулятор выдает близко к 1,24В, т.е. как по учебнику, а в реальности тесты дают 1,18 В. Я в недоумении. Наверно модели биполярников недостаточно точны для бандгапа?
эт точно
[/quote]
|
|
|
|
|
Dec 5 2006, 10:23
|
Знающий
   
Группа: Свой
Сообщений: 621
Регистрация: 18-01-06
Пользователь №: 13 343

|
Цитата(evi @ Dec 4 2006, 17:49)  Спасибо. Я имел ввиду конечно бандгапы 1-2% точности, для них как правило требуется подстройка. Но реально на потоке подстраивать можно только по напряжению, но не по оптимальной рабочей точке, в этом-то и загвоздка. У нас процесс TSMC 0.18 и бандгап у меня с подстройкой и прецизионным операционником, схема бандгапа стандартная, экспериментальные образцы дают ~2% точность, но неясно какую точность удастся достичь на потоке. Думаю опыт массового производства прецизионных референсов с разбросом <1...2% и дрейфом <10...30ppm/'C в технологиях 0.25um и ниже есть у немногих наших коллег кто работает на грандов типа Analog Devices, National Semiconductor, Crystal. Самому интересно. Присоединяюсь. Ау!
|
|
|
|
|
Dec 5 2006, 23:54
|
Гуру
     
Группа: Свой
Сообщений: 7 946
Регистрация: 25-02-05
Из: Moscow, Russia
Пользователь №: 2 881

|
Цитата(evi @ Dec 3 2006, 19:24)  У меня симулятор выдает близко к 1,24В, т.е. как по учебнику, а в реальности тесты дают 1,18 В. Я в недоумении. Наверно модели биполярников недостаточно точны для бандгапа? Как еще вариант - температурный коэфф. у резисторов либо не точен в модели, либо вообще забыт. Еще - как со всякими там .OPTION в спайсе? А то при неудачных настройках сам спайс могет не то насчитать. Не забыты там всякие RUNLVL на шестерочку, ACCURATE в единицу (это всё для hspice) и т.д., и т.п.? Вопрос тоже интересен. Тоже вот BGR сварганил, причем на микротоках, все в субпороговом режиме, а вот до образцов еще долго....
|
|
|
|
|
Dec 13 2006, 11:01
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 21
Регистрация: 15-11-05
Из: Зеленоград
Пользователь №: 10 862

|
Цитата(alexxaxa @ Dec 5 2006, 11:23)  Думаю опыт массового производства прецизионных референсов с разбросом <1...2% и дрейфом <10...30ppm/'C в технологиях 0.25um и ниже есть у немногих наших коллег кто работает на грандов типа Analog Devices, National Semiconductor, Crystal. Самому интересно. Присоединяюсь. Ау! На величину и стабильность опорного напряжения влияют разбросы биполярных транзисторов, резисторов и смещения нуля усилителя. Влияние изменения напряжения питания (Line Regulation) определяется качеством схемы и его можно сделать очень малым. Подстройкой при нормальной температуре нетрудно получить начальную точность лучше 1%. Это также несколько уменьшает температурный дрейф, если подстраивать резистор внутри схемы, а не просто масштабировать выходное напряжение. С температурным дрейфом сложнее. В обычном опорнике с компенсацией 1-го порядка не получить дрейф меньше 50-100 ppm/град. Нужно усложнять схему компенсацией более высокого порядка, тогда зависимость выходного напряжения от температуры уже не параболическая и можно достичь большего. Но сложных подстроек на разных температурах не избежать. По моему опыту в технологиях 0.6, 0.25 и 0.18 um особой разницы в схемотехнике опорников нет. Схемы меняются, когда питание уже не позволяет получить 1.2 В на выходе, тогда обеспечивают часть опорного напряжения, например, 0.6 В (1.2 В / 2). Соответственно это возможно при более низких питаниях. Также, если нужно более низкое опорное напряжение, то используют низковоьтные схемы.
|
|
|
|
|
Dec 18 2006, 18:54
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 21
Регистрация: 15-11-05
Из: Зеленоград
Пользователь №: 10 862

|
Цитата(alexxaxa @ Dec 13 2006, 17:55)  вопрос не в схемотехнике и напряжении питания. Насколько понимаю для получения температурной стабильности <20ppm/'C использование схем с квадратурной коррекцией температурной нелинейности штука обязательная. Интересен именно аспект разрросов в массовом производстве на современных технологиях. Ведь разбросы биполярных транзисторов в отличии от CMOS при переходе на более тонкий процесс изменяются не столь значительно. Вопрос и основной интерес заключался в том, позволяет ли однократная оптимизация под конкретный процесс в дальнейшем обеспечивать <2% точности и <20pp/'C температурной стабильности без калибровки на каждой партии в массовом производстве, ибо температурный измерения на пластине, да и в корпусе здорово удорожают изделие. Что можно сказать по этому поводу? Без калибровки или подстройки <20pp/'C температурной стабильности не получится. Фабрика имеет полное право выпускать пластины с разбросом элементов, указанным в спецификации процесса. Поэтому вы всегда можете рассчитать результат по худшему случаю. И опыт здесь на поможет. Сегодня вышли пластины с элементами typical, завтра - slow, послезавтра - fast, все это нормально, претензий предъявить нельзя.
|
|
|
|
|
Dec 18 2006, 19:22
|
Гуру
     
Группа: Свой
Сообщений: 7 946
Регистрация: 25-02-05
Из: Moscow, Russia
Пользователь №: 2 881

|
Цитата(Gesha @ Dec 18 2006, 18:54)  Фабрика имеет полное право выпускать пластины с разбросом элементов, указанным в спецификации процесса. Поэтому вы всегда можете рассчитать результат по худшему случаю. И опыт здесь на поможет. Сегодня вышли пластины с элементами typical, завтра - slow, послезавтра - fast, все это нормально, претензий предъявить нельзя. Поможет, поможет. Тут ведь главное согласование элементов, а не то, по slow или fast получилась конкретная пластина.
|
|
|
|
|
Dec 19 2006, 09:59
|
Знающий
   
Группа: Свой
Сообщений: 621
Регистрация: 18-01-06
Пользователь №: 13 343

|
[Без калибровки или подстройки <20pp/'C температурной стабильности не получится. Фабрика имеет полное право выпускать пластины с разбросом элементов, указанным в спецификации процесса. Поэтому вы всегда можете рассчитать результат по худшему случаю. И опыт здесь на поможет. Сегодня вышли пластины с элементами typical, завтра - slow, послезавтра - fast, все это нормально, претензий предъявить нельзя. [/quote]
Это из конкретного опыта? Поясню сомнения. Положим, что напряжение референса определяется соотношением: Vref = Vbe + Ku x (dVbe + Vos) + Vcor(T) + dVcor(P,V,T). Здесь при переходе на более тонкий процесс при сохранении размеров основных компонентов Vos и dVcor(P,V,T) уменьшаются. Ku определяется отношением. За разброс Vbe, определяющийся в основном разбросом рабочей точки, можно побороться схемотехникой. А вот что в сухом остатке может сказать практика. Что?
|
|
|
|
|
Dec 20 2006, 00:07
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 79
Регистрация: 20-09-06
Пользователь №: 20 552

|
Цитата(Gesha @ Dec 18 2006, 18:54)  Без калибровки или подстройки <20pp/'C температурной стабильности не получится. Фабрика имеет полное право выпускать пластины с разбросом элементов, указанным в спецификации процесса. Это понятно. Вопрос в том как при наличии подстройки заложенной в схеме реально совершать подстройку на потоке при комнатной температуре без температурного скана (поскольку температурный скан на потоке - это нереально). У меня в схеме подстраивается один из резисторов бандгапа и я заметил по результатам симуляций что если подстраивать выходное напряжение для каждого угла процесса, то одновременно приблизительно правильно подстраивается и положение температурного пика. Но это при условии точности моделей, а из моего тестирования уже видно что модели не на столько точны чтобы расчитать точное выходное напряжение. SM прав, скорее всего это из-за неточности ТК в модели резисторов. Вот и возникает вопрос: на практике, если имеется подстраиваемый бандгап и если его подстраивать на потоке только по выходному напряжению на одной температуре, какой реальной точности можно добиться?
|
|
|
|
|
Jan 17 2007, 15:28
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 17
Регистрация: 20-04-05
Из: Seoul. S.Korea
Пользователь №: 4 313

|
И еще Господа необходимо помнить. Что биполяр в CMOS это как вы знаете "паразит". Поэтому многие фабрики (например наша корейская) дает для него параметры только на type. При чем экспериментально и на моделировании проверенно что параметры BG а итенно Vref и TC очень сильно завися от IS и BS т.е обратного тока и коэффичиента усиления транзистора. Причем разбросы в спайсах частенько просто не дают. Поэтому если у вас спайс только тайп то попробуйте погонять IS и BS процентов эдак на 100(причем это типовое, реально я думаю получается и все 300%) и вы увидите результат. Замечено что очень сильно влияет IS (причем и по теории это все можно подтвердить). Поэтому если нет всех spice то требуйте хотябы PCM data со старых проектов, может там чего и нароете.
|
|
|
|
|
Jan 17 2007, 17:49
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 79
Регистрация: 20-09-06
Пользователь №: 20 552

|
Цитата(sergioms @ Jan 17 2007, 15:28)  И еще Господа необходимо помнить. Что биполяр в CMOS это как вы знаете "паразит". Поэтому многие фабрики (например наша корейская) дает для него параметры только на type. При чем экспериментально и на моделировании проверенно что параметры BG а итенно Vref и TC очень сильно завися от IS и BS т.е обратного тока и коэффичиента усиления транзистора. Причем разбросы в спайсах частенько просто не дают. Поэтому если у вас спайс только тайп то попробуйте погонять IS и BS процентов эдак на 100(причем это типовое, реально я думаю получается и все 300%) и вы увидите результат. Замечено что очень сильно влияет IS (причем и по теории это все можно подтвердить). Поэтому если нет всех spice то требуйте хотябы PCM data со старых проектов, может там чего и нароете. Лучше использовать биполярник в режиме диода, тогда BS не будет влиять, но IS конечно же влияет. У TSMC кстати есть углы в моделях биполярников.
|
|
|
|
|
Jan 18 2007, 04:23
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 17
Регистрация: 20-04-05
Из: Seoul. S.Korea
Пользователь №: 4 313

|
Уважаемый evi а немогли бы вы выбросить сюда уход IS в процентах по углам для какой нибудь технологии для сравнения
|
|
|
|
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|