Цитата №1 из datasheet на NAND flash K9WAG08U1A:

Из чего я делаю вывод: в структуре NAND при производстве могут возникать некоторые глюки, которые отлавливаются на этапе заводского тестирования и после их нахождения блок, который их содержит отключается от шины IO. Обращение к этим блокам должно возвращать какое-то значение (скорее всего 0х00). При стирании этих блоков возвращаемое значение меняться не должно: они ж отключены (..is isolated from the bit line and the common source line by a select transistor)!!
Цитата №2 из datasheet на NAND flash K9WAG08U1A:

Тут уже неувязочка получается... Как же они отключены, если информацию о них можно стереть? И какие же они invalid block, если они стираемые?

Переходя от теории к практике... Есть платка - на ней одна flash на гиг, ПЛИС, которую научили писать, читать, стирать эту flash. Самопальное тестирование этой flash производится следующим образом:
а. Стираем всю flash.
б. Пишем в нее (в каждую ячейку) 0хАА.
в. Читаем и стравниваем. Если считанное значение не совпало - пишем в лог адрес ячейки в котором есть несовпадение.
г. Стираем всю flash.
д. Пишем в нее (в каждую ячейку) 0х55.
е. Читаем и стравниваем. Если считанное значение не совпало - пишем в лог адрес ячейки в котором есть несовпадение.
ж. Стираем всю flash.

Результат - все пространство flash чувствует себя прекрасно за исключением четырех блоков. Именно блоков - проверяли адресацию. Так вот - значение КАЖДОЙ ячейки в этих блоках - 0х00! И оно не стирается!

Вот, подобрался к вопросам:

1. Если кто работал с flash - расскажите пожалуйста, всегда ли bad block возвращает значения 0х00 для каждой ячейки блока?
2. Эти самые initial invalid block'и - они если не работают - они всегда не работают? Или все дело в том, что через раз? (то есть один раз считывает правильно, но после стирания и записи может прочесться что-то не то, а потом опять нормально?)

Пока вроде все... Заранее спасибо за ответы.

ИМХО, здесь немного неверное прочтение - не отключается при"на заводе", а блокирован в процессе работы закрытым транзистором - это что-то вроде сигнала Chip Select. То есть, при обращении к рабочему блоку, активируется "select transistor" для этого блока, для всех остальных блоков (включая дефектные) - "select transistor" закрыты и блоки никак не влияют на обращение к активному блоку.

А вот выполнять операции с дефектными блоками Самсунг не рекомендует. В каком-то из даташитов я читал, что заводское тестирование массива намного более полное чем возможно выполнить на упакованном чипе через интерфейс, и не факт что дефект удастся обнаружить простой записью моделей и последующим сравнением. Например - утечка заряда в блоке. Записали-прочитали - все OK. Через полчаса - половина битов в блоке принимает левые значения. И никакой Хэмминг тут не поможет. Так что самый ценный ресурс чипа NAND - это его карта битых блоков

Не знаю, может быть как-то поменялась технология. При разработке у меня были случаи затирания информации о битых блоках от производителя - для 128Mbit и 1Gbit чипов, но потом часть маркированных битыми блоков работала нормально. Корректирующий софт был правда мощный - Хэмминг, верификация, резервирование и ремаппинг. Но сплошных нулей в битых блоках вроде не было.

VslavX: Спасибо!
Но ответы, порождают новые вопросы

Утечка заряда - это здорово, но если микросхема не запитана - я так понимаю никакой утечки быть не может - то есть она проявляется только при запитанной микросхеме, причем когда выбран соответствующий bad block? Или пример про утечку был приведен чисто абстрактно? (это я не в обиду - это я просто хочу разобраться )

Это для кого написано????



Из отсюда вывод - не пытайтесь стирать битые блоки, Вы только усугубите этим ситуацию....

Для меня? Ай, спасибо, не заметил

Там написано, что я потеряю информацию о изначально заложенных в массив bad block'ах. Но тут как говорится "поздно пить боржоми" ибо её я уже потерял Правда пока только в макетке... Вот теперь-то я и пытаюсь понять - произошло ли что-то страшное или не произошло?
Как я уже писал в первом посте мои "кратковременные" тесты flash проходит на 5+, а те bad block'и которые остались в микросхеме даже после стирания возвращают 0х00 из каждой ячейки.
Теперь пытаюсь провернуть более "долговременные тесты", т.е. пишу во flash данные, даю ей постоять при включенном питании, потом выключаю питание, читаю содержимое, опять даю постоять - опять выключаю, читаю...
О результатах непременно отпишусь

А вообще конечно попытаюсь так больше не делать, а использовать изначальную информацию о битых блоках... В следующих устройствах... Вот только макетку замучаю и попытаюсь так больше не делать...

Посмотрите как устроена любая флешовая файловая система - при форматировании записывается инфа :

- валидный/не валидный
- номер сектора
- max flash writes (уменьшается при кажной записи/стирании)
- crc

Плюс для ускорения доступа записывается суперблок, где обычно присутствует bitmap валидных секторов. И неважно что там с флешой.

Я вот теперь совсем не понимаю в чем проблема, в испорченных блоках данные = 0x00, а в нормальных = 0xFF после стирания, и Вы их различить не можете???

2 -Al-
Ну, проблему я изложил еще в первом посте:


Возможно мне просто попалась слишком хорошая микросхема flash... Возможно если я возьму другую такую же - все будет не так хорошо как сейчас...

А пока: Вчера вечером заполнил всю микросхему значением 0xAA. Продержал во включенном состоянии полчаса - пошел домой. Сегодня с утра все считалось (За исключением нулей в bad block'ах). Сегодня после трех циклов час вкл. - час выкл. тоже все ОК

Завтра помучаю эту заразу теми же циклами со значением 0х55...

Может правда сильно приличная микруха попалась....

1. Нет.
2. В зависимости от механизма отказ может быть в 1 случае из N. N от 1 до 10...0
Повторить заводскую проверку Вам не удастся. Устройство уже нельзя считать надежным
Держать микруху во включенном состоянии мало - надо все время вычитывать и проверять вычитанные данные, желательно при повышенной температуре (макс. рабочая температура из дата шита) - температурно ускоренный тест. Но это слишком трудоемкое занятие да еще и для одного устройства - проще чип заменить.
Если очень жалко менять чип стоит привинтить что-то вроде ECC коррекции или периодичски считать контрольную сумму.

2 Runner, Спасибо! Прекращаю свои бесплодные попытки добиться от микрухи глюков А насчет "жалко менять чип" - не, не жалко - смысла пока не вижу - платка у меня пока макет. В релизе учту все советы...

2 Harbour
Немножко не понял...
max flash writes - это программное ограничение количества записей?
bitmap валидных секторов - это вообще что за зверь?
любая флешовая файловая система - а можно ссылочку?

- да, так как обычно флеш выдерживает определенное кол. записей/стирания + дополнительные ограничения, for ex. как у атмеля, где надо обновлять страницы после опр. кол. записей в блок.
- флеш со временем клеит ласты - при пере/форматировании строим карту секторов с данными признаками
- ссылок под рукой нет, наберите в гугле - что-то одно из jffs2/DFSS/ELF.

2 Harbour. Понял, спасибо!