Всем доброго времени суток!
Описание задачи.

Измерить параметры СВЧ транзистора, кристалл которого разварен непосредственно на ПП.
Результаты измерений необходимо откалибровать до разварочных проводников (т.е. измерить кристалл транзистора + разварочные проводники).

Вопросы.

От какой наинизшей частоты и до какой наивысшей частоты следует измерять его параметры, если его использование планируется в диапазоне частот 1ГГц-3ГГц?

Собираюсь использовать калибровку с стандартами TRL, целесообразно ли это, может на данных частотах можно использовать более простые методы калибровки?

Может у кого есть материал поясняющий, как с помощью файла S-параметров транзистор+ПП, а также 3 вспомогательных файлов S-параметров (ПП+ каждая из TRL структур) получить действительные параметры транзистора без ПП, желательно в ADS или cadence?

Спасибо за ответы.

Калибруете тест ficture short, open, thru and matched, то есть такая же топология но без кристалла,
а затем замеряете с кристаллом и ву а ля с VNA считываете S параметры....

Ну а схему решения этой задачи на четырехполюсниках в симуляторе не знаете?

В прикрепленном файле пример, как это делается в ансофт нексим для катушки.

Несколько не понял вопроса, причем симулятор?Здесь глянте http://www.anritsu.co.jp/Products/pdf_e/11410-00346.pdf