FM25CL64 - микросхема памяти давно применяется у наших приборов. Но совсем недавно на производстве пошел значительный процент брака приборов, связанного с FRAM. У нас есть специальный стенд для проверки прибора в котором можно определить количество ошибок записи/чтения в/с FRAM. Так количество ошибок меняется в одной и той же микросхеме при не меняющихся условиях. Это странно. Может кто сталкивался с подобным?