DFT (Design For Test) - Форум разработчиков электроники ELECTRONIX.ru

реклама на сайте
подробности

Wiki

Wiki

Photo

Forum

Forum

Reviews

Reviews

Help (!)

Help (!)

Правила Форума

Пользователи

Календарь

Личная почта

Панель управления

Форум разработчиков электроники ELECTRONIX.ru > Cистемный уровень проектирования > Разработка цифровых, аналоговых, аналого-цифровых ИС

Reply to this topic

Start new topic

DFT (Design For Test), Поделитесь литературой, пож.

Victor® Просмотр профиля	Jul 14 2009, 11:37 Сообщение #1
Lazy Группа: Свой Сообщений: 2 070 Регистрация: 21-06-04 Из: Ukraine Пользователь №: 76	Здравствуйте! Интересует информация по DFT методологии. В первую очередь интересует различные алгоритмы MBIST. Что-то не могу в инете найти ничего конретного. Единственно, что хоть как-то прояснило вопрос - http://www.asic-dft.com Может у кого ссылки есть какие-то или книги? С уважением, Виктор -------------------- "Everything should be made as simple as possible, but not simpler." - Albert Einstein

iosifk Просмотр профиля	Jul 14 2009, 12:10 Сообщение #2
Гуру Группа: Модераторы Сообщений: 4 011 Регистрация: 8-09-05 Из: спб Пользователь №: 8 369	Цитата(Victor® @ Jul 14 2009, 15:37) Здравствуйте! Интересует информация по DFT методологии. ... Что-то не могу в инете найти ничего конретного. ... Может у кого ссылки есть какие-то или книги? На сайте Ментора... -------------------- www.iosifk.narod.ru

Victor® Просмотр профиля	Jul 14 2009, 13:10 Сообщение #3
Lazy Группа: Свой Сообщений: 2 070 Регистрация: 21-06-04 Из: Ukraine Пользователь №: 76	Цитата(iosifk @ Jul 14 2009, 15:10) На сайте Ментора... Спасибо, но поиск по ментору дал всего 2 полезные ссылки на документы. Интересуют книги: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability http://www.amazon.com/VLSI-Test-Principles.../ref=pd_sim_b_4 System-on-Chip Test Architectures http://www.amazon.com/System-Chip-Architec.../ref=pd_sim_b_5 High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test http://www.amazon.com/High-Performance-Mem...s/dp/1402072554 A. J. van de Goor, Testing Semiconductor Memories -------------------- "Everything should be made as simple as possible, but not simpler." - Albert Einstein

Losik Просмотр профиля	Jul 14 2009, 14:08 Сообщение #4
Местный Группа: Свой Сообщений: 453 Регистрация: 22-04-07 Пользователь №: 27 235	VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon) h__p://ifile.it/e6lsymi/0123705975.zip or h__p://www.filefactory.com/file/01be03/n/0123705975_zip High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing) h__p://www.badongo.com/file/8034169 or h__p://ifile.it/1yawvx5/1402072554__gigle.ws.rar archive password: gigle.ws /..../docs/System-on-Chip Test Architectures By Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba

Victor® Просмотр профиля	Jul 14 2009, 14:43 Сообщение #5
Lazy Группа: Свой Сообщений: 2 070 Регистрация: 21-06-04 Из: Ukraine Пользователь №: 76	Цитата(Losik @ Jul 14 2009, 17:08) VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon) h__p://ifile.it/e6lsymi/0123705975.zip or h__p://www.filefactory.com/file/01be03/n/0123705975_zip High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing) h__p://www.badongo.com/file/8034169 or h__p://ifile.it/1yawvx5/1402072554__gigle.ws.rar archive password: gigle.ws /..../docs/System-on-Chip Test Architectures By Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba Спасибо за помощь! Желаю успехов! Цитата(Losik @ Jul 14 2009, 17:08) VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon) h__p://ifile.it/e6lsymi/0123705975.zip or h__p://www.filefactory.com/file/01be03/n/0123705975_zip High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing) h__p://www.badongo.com/file/8034169 or h__p://ifile.it/1yawvx5/1402072554__gigle.ws.rar archive password: gigle.ws /..../docs/System-on-Chip Test Architectures By Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba Может еще что-то посоветуете по тестированию памяти? -------------------- "Everything should be made as simple as possible, but not simpler." - Albert Einstein

Losik Просмотр профиля	Jul 14 2009, 15:10 Сообщение #6
Местный Группа: Свой Сообщений: 453 Регистрация: 22-04-07 Пользователь №: 27 235	добавил книгу /.../docs/High_Performance_Memory_Testing и Design for Testability Theory and Practice "Professors Adit Singh and Vishwani Agrawal Electrical and Computer Engineering Auburn University, Auburn, AL 36849, USA" /.../docs/DFT 3 Day Course- VAgrawal

Losik Просмотр профиля	Jul 14 2009, 17:18 Сообщение #7
Местный Группа: Свой Сообщений: 453 Регистрация: 22-04-07 Пользователь №: 27 235	/.../docs/mbist_wkb Memory_BIST_Training_Workbook. Men.tor Gr.aphics

Victor® Просмотр профиля	Jul 15 2009, 06:19 Сообщение #8
Lazy Группа: Свой Сообщений: 2 070 Регистрация: 21-06-04 Из: Ukraine Пользователь №: 76	Цитата(Losik @ Jul 14 2009, 20:18) /.../docs/mbist_wkb Memory_BIST_Training_Workbook. Men.tor Gr.aphics Спасибо за литру. Пошел читать :-) -- Желаю успехов! -------------------- "Everything should be made as simple as possible, but not simpler." - Albert Einstein

« Предыдущая тема · Разработка цифровых, аналоговых, аналого-цифровых ИС · Следующая тема »

Reply to this topic

Start new topic

1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)

Пользователей: 0

Режим отображения: Стандартный · Переключить на: Линейный · Переключить на: Древовидный

Подписка на тему · Сообщить другу · Версия для печати · Подписка на этот форум

Текстовая версия

Сейчас: 6th July 2025 - 03:30

Страница сгенерированна за 0.01416 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016