Здравствуйте! Есть ПЛИС Spartan-6 xc6slx150-3fgg484 и внешняя память DDR3 MT41J64M16LA-187E. Память подключена к третьему банку ПЛИС. Частота работы с памятью 300 МГц.

В ISE12.4 сделал проект контроллера памяти с помощью MIG. В проекте оставил один двунаправленный порт х32. Взял example_design. Отмоделировал - все в порядке. А вот при тестировании в железе начались проблемы, которые никак не удается победить. Проблемы двух типов:

1) При чтении пачки данных одно из данных застревает на выходе FIFO на несколько тактов. При этом часть данных теряется. Эта ситуация показана на картинке error1. Ошибка повторяется время от времени в процессе тестирования. Данная ошибка, как выяснилось, зависит от частоты работы. На 250 МГц ее вероятность намного меньше, а на 200 МГц она вообще пропадает. Также ситуация стала лучше после того, как поменял настройку Unused IOB Pins = Float на Pull Down в свойствах генерации программного файла.

2) Начиная с какого-то момента, контроллер просто перестает выполнять новые запросы. В результате переполняется командное FIFO и тест останавливается. Вероятность этой ошибки зависит от диапазона тестируемых адресов. Если значение параметра C3_HW_TESTING = "FALSE", то встречается она очень редко. Если же поставить "TRUE" - ошибка происходит тут же при начале тестирования. Такая ситуация повторяется на любой частоте от 200 до 300 МГц.

В чем тут может быть дело?