|
|
  |
Погрешности АЦП и ЦАП, Обсуждение погрешностей АЦП и ЦАП |
|
|
|
Jan 28 2005, 07:45
|
Группа: Новичок
Сообщений: 4
Регистрация: 28-01-05
Пользователь №: 2 250

|
В настоящее время занимаюсь анализом составляющих погрешностей АЦП и пришел к интересному заключению что либо доскональным анализом занимается ограниченное число людей не имеющих доступа в инет, либо не занимаются вообще. Подскажите пожалуйста каково типичное соотношение составляющих суммарной погрешности имеющих аддитивный и мультипликативный характер. Чем определяется суммарная погрешность АЦП? Применяемым ЦАП, усилителем, компаратором, уходом опоры и тд? И каково, интересно, участие каждого из элементов? Если кто знает где это найти, расскажите.
|
|
|
|
|
Jan 31 2005, 07:59
|
Группа: Новичок
Сообщений: 4
Регистрация: 28-01-05
Пользователь №: 2 250

|
По большей части, конечно это интерес с научной стороны вопроса. Но с выходом на практические реализации. Типы АЦП - последовательного приближения и конечно сигма-дельта.
|
|
|
|
|
Jan 31 2005, 08:39
|
Участник

Группа: Свой
Сообщений: 23
Регистрация: 29-10-04
Пользователь №: 1 006

|
Цитата(Radeon @ Jan 28 2005, 10:45) В настоящее время занимаюсь анализом составляющих погрешностей АЦП и пришел к интересному заключению что либо доскональным анализом занимается ограниченное число людей не имеющих доступа в инет, либо не занимаются вообще. Подскажите пожалуйста каково типичное соотношение составляющих суммарной погрешности имеющих аддитивный и мультипликативный характер. Чем определяется суммарная погрешность АЦП? Применяемым ЦАП, усилителем, компаратором, уходом опоры и тд? И каково, интересно, участие каждого из элементов? Если кто знает где это найти, расскажите. Ответ заключен в вопросе. Все узлы АЦП вносят свой вклад в суммарную погрешность. Пишите формулу преобразования, берете частные производные, вот Вам и погрешности(точнее, чувствительность к изменению параметра). Типичные значения сильно зависят от способа преобразования.
|
|
|
|
|
Jan 31 2005, 14:05
|
Группа: Новичок
Сообщений: 4
Регистрация: 28-01-05
Пользователь №: 2 250

|
Функция преобразования АЦП расматривает данное устройство как единое целое и соответственно не дробит на аппаратные составляющие. Тем более не дает информации о вкладе каждой составляющей в общую модель погрешности. Но возможно я не прав, сейчас я на пути к общей модели погрешности. Спасибо.
|
|
|
|
|
Feb 1 2005, 06:19
|
Участник

Группа: Свой
Сообщений: 23
Регистрация: 29-10-04
Пользователь №: 1 006

|
Цитата(Radeon @ Jan 31 2005, 17:05) Функция преобразования АЦП расматривает данное устройство как единое целое и соответственно не дробит на аппаратные составляющие. Тем более не дает информации о вкладе каждой составляющей в общую модель погрешности. Но возможно я не прав, сейчас я на пути к общей модели погрешности. Спасибо. Вы, очевидно, имеете ввиду упрощенную функцию преобразования. Попробуйте написать полную исходя из принципа работы конкретного преобразователя. Это не очень сложно. Разумеется, полнота зависит от желаемой точности приближения. Почитайте документы на сайте Analog Device (www.analog.com).
|
|
|
|
|
Feb 2 2005, 08:03
|
Группа: Новичок
Сообщений: 4
Регистрация: 28-01-05
Пользователь №: 2 250

|
Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например: - погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя... - смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора... И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров. Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти.
|
|
|
|
|
Feb 8 2005, 10:05
|
Участник

Группа: Свой
Сообщений: 23
Регистрация: 29-10-04
Пользователь №: 1 006

|
Цитата(Radeon @ Feb 2 2005, 11:03) Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например: - погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя... - смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора... И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров. Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти. Эх, молодежь... Вот смотрю datasheet AD578(9). INTERNAL REFERENCE Voltage 10.000 ± 100 mV Drift ±12 ppm/°C, ±20 ppm/°C max TEMPERATURE COEFFICIENTS Gain ±15 ppm/°C typ ±30 ppm/°C max Unipolar Offset ±3 ppm/°C ±10 ppm/°C max Bipolar Offset ±8 ppm/°C typ ±20 ppm/°C max POWER SUPPLY SENSITIVITY +15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max –15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max +5 V ± 10% 0.005%/%∆VS max TRANSFER CHARACTERISTICS Gain Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max Unipolar Offset ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max Bipolar Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max Linearity Error, 25°C ±1/2 LSB max TMIN to TMAX ±3/4 LSB Внимательно посмотрите на эти цифры и вспомните КАК работает АЦП последовательного приближения. Видно, что температурная погрешность Gain на 2/3 определяется погрешностью Vref и на 1/3(оставшуюся)- ЦАПом. И т.д. и т.п.
|
|
|
|
|
Feb 9 2005, 04:30
|
Участник

Группа: Свой
Сообщений: 23
Регистрация: 29-10-04
Пользователь №: 1 006

|
Цитата(KOME @ Feb 8 2005, 13:05) Цитата(Radeon @ Feb 2 2005, 11:03) Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например: - погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя... - смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора... И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров. Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти. Эх, молодежь... Вот смотрю datasheet AD578(9). INTERNAL REFERENCE Voltage 10.000 ± 100 mV Drift ±12 ppm/°C, ±20 ppm/°C max TEMPERATURE COEFFICIENTS Gain ±15 ppm/°C typ ±30 ppm/°C max Unipolar Offset ±3 ppm/°C ±10 ppm/°C max Bipolar Offset ±8 ppm/°C typ ±20 ppm/°C max POWER SUPPLY SENSITIVITY +15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max –15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max +5 V ± 10% 0.005%/%∆VS max TRANSFER CHARACTERISTICS Gain Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max Unipolar Offset ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max Bipolar Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max Linearity Error, 25°C ±1/2 LSB max TMIN to TMAX ±3/4 LSB Внимательно посмотрите на эти цифры и вспомните КАК работает АЦП последовательного приближения. Видно, что температурная погрешность Gain на 2/3 определяется погрешностью Vref и на 1/3(оставшуюся)- ЦАПом. И т.д. и т.п. Ерунду написал. В общем на постоянном токе Vin=((Vref+dVref)/(GAIN+dGAIN))*(Nout/Nmax)+-(Voffcomp+-dVoffcomp)+-Vinl+-Vdnl
|
|
|
|
|
  |
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|