реклама на сайте
подробности

 
 
 
Reply to this topicStart new topic
> Интересует информация о Bist и ATPG
Добрый Бяк
сообщение Aug 9 2007, 10:43
Сообщение #1





Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-08-07
Пользователь №: 29 674



В целях повышения квалификации интересуют вопросы связанные с самотестированием цифровых схем (теория, САПР для синтеза структур) и автоматическое создание тестов. В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
soshnev
сообщение Aug 10 2007, 08:27
Сообщение #2


Частый гость
**

Группа: Новичок
Сообщений: 119
Регистрация: 26-08-05
Пользователь №: 7 989



Цитата(Добрый Бяк @ Aug 9 2007, 14:43) *
В целях повышения квалификации интересуют вопросы связанные с самотестированием цифровых схем (теория, САПР для синтеза структур) и автоматическое создание тестов. В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.


ПОМОЖЕМ НОВЫМ ЧЛЕНАМ ФОРУМА !!!

Я этим непосредственно не занимаюсь, но кое-что могу вспомнить...
Заранее извиняюсь за то, что возможно не скажу что-то нового ...

1. Теория выходит теперь уже из прошлого века.

Основной вопрос был как проверить на годность схему (или автомат) при производстве.
Для этого надо было создать диагностические тесты. Они должны быть полными
и их должно быть как можно меньше (сокращение времени измерения).
Здесь в теории появляются термины:
-- диагностические тесты
-- наблюдаемость
-- управляемость
-- полнота покрытия тестов (полнота тестов)
-- константная неисправность
-- моделирование неисправностей

Основные решения для сокращения тестов (про которые я что-то знаю) :

- вcтраиваимые пути сканирования в аппаратуре (см. у программ синтеза
synopsys,synplify и др.), JTAG и т п.
- автоматический синтез тестов (например, через моделирование неисправностей
"внедряется например по очереди константная неисправность 0 или 1 для каждого узла
комбинационной схемы и генерятся ("наблюдаются") тесты способные её выявить...)
(см. программы генерации тестов типа tetramax))

2. Рекомендую ключи для поиска:
- tetramax, tesgen(очень общий ключ),FaultSim.
- ключевые слова по теории из п.1.

Изначально было ПО под названием HILO, у CADENCE что-то типа DANTES.
Попробуй поискать документацию у synopsys и cadence.

3. Дальнейшие подробности могу сообщить в зависимости от ответа на след. вопрос:

А с какой целью интересует этот вопрос? Что планируется - использовать какое-то ПО
или создавать своё ПО, или что-то другое?
Go to the top of the page
 
+Quote Post
acex2
сообщение Aug 10 2007, 09:39
Сообщение #3


Адепт
****

Группа: Свой
Сообщений: 520
Регистрация: 15-02-05
Пользователь №: 2 656



Цитата(Добрый Бяк @ Aug 9 2007, 14:43) *
В целях повышения квалификации интересуют вопросы связанные с самотестированием цифровых схем (теория, САПР для синтеза структур) и автоматическое создание тестов. В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.


Регистрируешься на www.edaboard.com и ищешь в разделе EDA E-books Upload/Download по ключевым словам BIST, ATPG и DFT. Найдешь кучу книг, в том числе и академических.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Добрый Бяк
сообщение Aug 10 2007, 10:54
Сообщение #4





Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-08-07
Пользователь №: 29 674



soshnev
спасибки.

Цитата(soshnev @ Aug 10 2007, 12:27) *
А с какой целью интересует этот вопрос? Что планируется - использовать какое-то ПО
или создавать своё ПО, или что-то другое?

Цель - изучить и научиться применять методологию DFT при разработке цифровых СБИС

Как я понял для решения задач и у Cadence и Synopsys есть свой софт. Scan цепочки вставляются во время синтеза и за это отвечает DesignCompiler / RTL Compiler . Вопрос тестопригодности и генерации тестов ->tetramax.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
grigorik
сообщение Aug 15 2007, 15:20
Сообщение #5


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 94
Регистрация: 3-11-05
Из: ARM
Пользователь №: 10 424



Цитата(Добрый Бяк @ Aug 10 2007, 13:54) *
soshnev
спасибки.
Цель - изучить и научиться применять методологию DFT при разработке цифровых СБИС

Как я понял для решения задач и у Cadence и Synopsys есть свой софт. Scan цепочки вставляются во время синтеза и за это отвечает DesignCompiler / RTL Compiler . Вопрос тестопригодности и генерации тестов ->tetramax.


У Synopsys а Scan цепочки вставляются DFT Compiler ом. Для этогоо софта нужна отдельная лицензия. DesignCompiler вызывает DFT Compiler а. DesignCompiler отвечает только за синтеза RTL кода.
TetraMax генерирует тест векторы для ATE, по тест протоколу созданым DFT Compiler ом.
Cadence не знаю .


--------------------
G.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Andrey.Belousov
сообщение Apr 21 2009, 13:30
Сообщение #6





Группа: Новичок
Сообщений: 3
Регистрация: 22-10-07
Из: Воронеж
Пользователь №: 31 589



Кто нить вкурсе что с Cadence? И вообще где можно почитать какую нить рускоязычную литературу по етому вопросуsmile.gif?
По каденсу нашёл только Encounter TTT, однако о етом продукте только брошурки рекламные...sad.gif
Go to the top of the page
 
+Quote Post
-=Vitaly=-
сообщение Apr 28 2009, 08:57
Сообщение #7


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 468
Регистрация: 31-08-06
Из: Киев
Пользователь №: 19 991



Цитата(Andrey.Belousov @ Apr 21 2009, 16:30) *
Кто нить вкурсе что с Cadence? И вообще где можно почитать какую нить рускоязычную литературу по етому вопросуsmile.gif?
По каденсу нашёл только Encounter TTT, однако о етом продукте только брошурки рекламные...sad.gif



У Кад*нса для создания DFT структур используется RC Compiler, дальше можно оптимизировать скан-цепочки по-месту при помощи First Enc*unter. А непосредственно для ATPG используется Enс*unter Test. Насчет генерации- тест векторов я не специалист, а вот с DFT помочь могу если будут предметные вопросы.
Русскоязычной литературы нет, по крайней мере я не видел, но зато встречаются лабораторные работы разных университетов по этой тематике, доволно неплохой материал для старта.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Andrey.Belousov
сообщение Apr 28 2009, 09:15
Сообщение #8





Группа: Новичок
Сообщений: 3
Регистрация: 22-10-07
Из: Воронеж
Пользователь №: 31 589



Ok,cпс,буду иметь ввиду. В проекте с которым я разбираюсь скан-цепочки реализованны вручную, изначально для производственного тестирования использовались тестовые вектора сгенерированные из функциональных тестов,сейчас же с помощью ТетраМакс получилось сгенерировать тетсовые вектора более высокого уровня покрытия,и уже ети тестовые вектора будут использоваться для дальнейшего тестирования. Информацию ищу фактически любую,что по ДФТ,что по генерации векторов - ибо на данный момент кроме того что етот проект надо завершить, у меня дипломная работа на эту же тематику.

Создание вручную скан-цепочек было обусловленно попыткой сэкономить место на кристале при синтезе,а так же ввиду использования SPI интерфейса для тестирования,который изначально существует на чипе(то бишь избежать дополнительных пинов и использование JTAG-интерфейса).

Примерно как то такsmile.gif
Go to the top of the page
 
+Quote Post
iosifk
сообщение Apr 28 2009, 10:08
Сообщение #9


Гуру
******

Группа: Модераторы
Сообщений: 4 011
Регистрация: 8-09-05
Из: спб
Пользователь №: 8 369



Цитата(Добрый Бяк @ Aug 9 2007, 13:43) *
В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.

Значит на моем сайте Вы тоже ничего не нашли?


--------------------
www.iosifk.narod.ru
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Andrey.Belousov
сообщение Apr 28 2009, 11:02
Сообщение #10





Группа: Новичок
Сообщений: 3
Регистрация: 22-10-07
Из: Воронеж
Пользователь №: 31 589



Про JTAG у вас хорошие статьи,ну а именно о DFT что то не нашёл беглым взглядом на вашем сааайте.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
iosifk
сообщение Apr 28 2009, 11:59
Сообщение #11


Гуру
******

Группа: Модераторы
Сообщений: 4 011
Регистрация: 8-09-05
Из: спб
Пользователь №: 8 369



Цитата(Andrey.Belousov @ Apr 28 2009, 14:02) *
... а именно о DFT что то не нашёл беглым взглядом на вашем сааайте.

Статьи у Ментора есть, но на англ...
Кстати, я в прошлом году летом писал софт про ATPG...
Замучился, т.к. там слишком много "руками" надо объяснять софту. Джамперы - стоят или нет, резистор - это закоротка или обрыв, сборки резисторные все имеют разную цоколевку... Ну и так далее... Получалось довольно занудно.
Еще смотрите на сайте Startest... Это бывшие наши и статьи у них есть на русском...
Удачи!


--------------------
www.iosifk.narod.ru
Go to the top of the page
 
+Quote Post

Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 23rd August 2025 - 18:19
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01439 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016