Искусственное старение полупроводников, Хотелось бы найти методики проведения Опции

[farit_farit]

Здравствуйте.

Помогите, пожалуйста, может у кого есть литература или методики по проведению старения полупроводниковых приборов, полупроводников, металлов. Буду рад любой ссылке.

Заранее благодарен

[V_G]

Полупроводник в составе п/п прибора искусственно состарить нереально. Более того, в начале эры полупроводников их считали вечными, и это во многом верно. Скорее всего, старятся девайсы с постоянной высокой нагрузкой (типа полупроводниковых лазеров, мощных сверхъярких светодиодов, возможно, высоковольтных устройств). Остальные отказывают не от старения, а от нарушений режимов эксплуатации, действия ионизирующего излучения и космических частиц и от проявления скрытых дефектов, внесенных на этапе изготовления. Так что испытания должны быть направлены не на старение, а на проявление скрытых дефектов. По этому поводу есть научные статьи и диссертации, но никак не нормативные документы.

[farit_farit]

спасибо за экскурс в историю. искусственное старение создается с целью определить как долго будет работать полупроводник и при каких условиях. этот термин часто встречается в статьях. у нас есть импортная методика искусственного старения. хочется естественно получить побольше информации об этом. если есть ссылки на статьи это тоже будет здорово. еще вроде термин термоудара тоже относиться к искусственному старению.

Искусственное старение стабилизирует параметры прибора.

[VSt&]

>Искусственное старение стабилизирует параметры прибора.
Иначе говоря, выводит характеристику интенсивности отказов (у буржуев FIT bathtub curve) на плоский участок, определяемый в основном случайными отказами. Достигается технологическим прогоном оборудования. Насчет параметров прогона могу сказать, что FIT разных типов компонентов имеют разные формализованные зависимости от режимов работы, определяемых в основном током, температурой, напряжением и частотой, а отсюда можно вывести методику прогона. При расчетах я пользовался справочником "Надежность ЭРИ", издаваемым, если не ошибаюсь, 22 ЦНИИИ МО. В качестве теории неплоха книга "Practical Reliability of Electronic Equipment and Products", E.R.Hnatek.

Полупроводники стареют от температуры, радиации, etc. Распайка кристалла стареет от термоциклирования.

[i-mir]

Возможно ответ на ваш вопрос содержится в
Device Reliability Failure Models - модели расчета надежности полупроводников в ускоренных режимах.

Описание методики прилагаю (англ):

Прикрепленные файлы

 DRF_models.pdf ( 160.47 килобайт ) Кол-во скачиваний: 251

 

[farit_farit]

Спасибо, сейчас посмотрим