реклама на сайте
подробности

 
 
> Метрология работы PLL (ФАПЧ). Измерение частоты., Как оценить метрологические параметры сигнала после прохождения PLL?
Reanimator++
сообщение Jan 11 2012, 08:41
Сообщение #1


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 399
Регистрация: 1-01-06
Из: Волгоград
Пользователь №: 12 763



Имеется частотомер, работающий по схеме на рисунке - по входному сигналу формируются временные ворота, синхронизированные с фронтами импульсов, затем эти ворота заполняются счетными импульсами опорной частоты.

Опорный сигнал берется от рубдиевого стандарта частоты, возьмем для примера вот такой - http://www.prist.ru/produces/pdf/fs725.pdf

Измерение длится 1 секунду. Из параметров сигнала стандарта частоты на погрешность измерения оказывают влияние долговременная нестабильность за время службы и кратковременная нестабильность за время измерения (фактически, эти относительные погрешности просто приплюсовываются к методической погрешности метода дискретного счета и погрешности формирования временных ворот, связанной с конечным временем переворачивания триггеров).

Есть идея пропустить опорный сигнал через PLL, умножив его частоту на 30 и увеличить частоту заполнения для получения большей точности измерений. При этом измерять уже не 1 секунду, а 0.1 секунду с точностью близкой к исходному варианту.

Если долговременная стабильность частоты при прохождении через PLL не изменится, то как оценить кратковременную нестабильность?

Как я понимаю, кратковременная нестабильность при прохождении PLL должна существенно ухудшиться (для оценки думаю можно было бы взять имеющуюся нестабильность и умножить ее на 30) - PLL должен перенести нестабильность длительности каждого входного импульса на 30 выходных..

Как правильно посчитать? Есть ли литература на тему?
Эскизы прикрепленных изображений
Прикрепленное изображение
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
Reanimator++
сообщение Jan 11 2012, 14:28
Сообщение #2


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 399
Регистрация: 1-01-06
Из: Волгоград
Пользователь №: 12 763



Да, совершенно верно увеличение частоты заполнения позволит снизить методическую погрешность. Собственно целью является измерять быстрее при сохранении точности. Все делается на ПЛИС Altera Cyclone III.
Если сейчас частота заполнения 10 МГц, то за 1 секунду методическая погрешность измерения частоты 0.1ppm, для заполнения в 300 МГц за 0.1 сек методическая погрешность будет 0.033 ppm. Её как раз посчитать легко.

Я не совсем понимаю связь между спектральной плотностью мощности шумов, джиттером сигнала и кратковременной нестабильностью частоты за определенный период времени. Это пожалуй главный вопрос топика.

Окончательный джиттер после PLL как дрожжание фронтов сигнала значения для измерения частоты практически не имеет, ибо там пикосекунды а измерение длится секунду. А вот кратковременная нестабильность частоты значение имеет...
Go to the top of the page
 
+Quote Post
тау
сообщение Jan 11 2012, 22:00
Сообщение #3


.
******

Группа: Участник
Сообщений: 2 424
Регистрация: 25-12-08
Пользователь №: 42 757



Цитата(Reanimator++ @ Jan 11 2012, 17:28) *
Я не совсем понимаю связь между спектральной плотностью мощности шумов, джиттером сигнала и кратковременной нестабильностью частоты за определенный период времени. Это пожалуй главный вопрос топика.

в книгах иногда это более или менее удачно описывается. Например , посмотрите
Phase Lock Loops and Frequensy Synthesis/ F. Kroupa 2003 John Willey & Sons
и других подобных

Цитата
Окончательный джиттер после PLL как дрожжание фронтов сигнала значения для измерения частоты практически не имеет, ибо там пикосекунды а измерение длится секунду. А вот кратковременная нестабильность частоты значение имеет...

могут быть совсем даже не пикосекунды . Особенно если PLL в плисине.

Сообщение отредактировал тау - Jan 12 2012, 07:39
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 21st July 2025 - 01:24
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.0137 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016