Одна из американских фирм, производящая радиац-о-стойкие гибридные схемы, указывает своим первым тестом согласно какому-то стандарту IPRF (если я не путаю эти буквы) сканирование лазерным лучом поверхности каждого образца. Кто-нибудь знаком с этой методикой? Как можно соотнести облучение лазером и, например, облучение рентгеновской трубкой и можно ли их вообще соотнести? Можно ли пересчитать дозу излучения лазера в рады? Если нет вообще никакой установки по облучению кристаллов, имеет ли смысл смотреть характеристики лазерных установок для организации тестирования образцов вместо размышлений на тему "куда отвезти свой образец на испытания"?
|