Источник со специфической диаграммой, Подскажите как подойти к задаче Опции

[fsergey]

Требуется создать источник ИК (850 +- 50 нм) со специфической диаграммой направленности.
Вкладываю изображение с диаграммой в двух плоскостях.
Красным отмечены нужные участки, как распределена мощность вне участков представляется не важным.
Мощность в целевом секторе требуется ~100 мВт.
В одной плоскости мощность нужно распределить в секторе 20 градусов линейно относительно угла. В другой - постоянная плотность в секторе 20 градусов.
Важна относительная точность распределения, порядка 0.1%.
Если использовать светодиод и подобранный градиентный светофильтр, то есть сомнения в точности из-за неоднородности кристалла. Впрочем как и в случае с лазером.
Решаема ли эта задача вообще? Какие можете дать советы?
Большое спасибо!

Эскизы прикрепленных изображений

 

[Le Fou]

Решаема ли эта задача вообще? Какие можете дать советы?
Большое спасибо!

может, посмотреть в сторону голограммы? или расщепить луч на несколько и сформировать волновые фронты таким образом, чтобы они проинтерферировали с созданием нужной картины(таже голограмма, по сути, только сбоку). но на пальцах тут никак, надо открыть учебник по физической оптике и попробовать нарисовать уравнения..

требуемые 0.1% конечно ужасают. я даже думаю, что это нереальные цифры, их даже замерить (чтобы подтвердить) непонятно как.

Сообщение отредактировал Le Fou - Jul 24 2012, 20:44

[fsergey]

требуемые 0.1% конечно ужасают. я даже думаю, что это нереальные цифры, их даже замерить (чтобы подтвердить) непонятно как.

В том-то и дело, что цифру эту взял с учётом дин. диапазона датчика. С замером в этом плане проблем нет. Про формирование интерференционной картинки я подумаю, может здесь что-нибудь и зарыто, спасибо!

Это, видимо, часть какой-то задачи, и разумнее компенсировать неравномерность считанных данных программно, по результатам калибровки (если я правильно предположил задачу).

Об этом пути я думал в первую очередь, но это представилось невозможным, поскольку считываемая величина по сути уже является результатом измерения и нет критериев её корректировки или калибровки... Компенсировать погрешность можно будет позже, статистическим образом, но до этого хотелось бы минимизировать факторы погрешности.

Мне стало интересно, если использовать часть лепестка диаграммы обычного светодиода - то какое максимальное отклонение от заявленной диаграммы характерно? Никто не сталкивался?