(ну а для симуляции самого девайса можно использовать идеальный балун вобщемто)
Ясно, т.е. я должен сделать итого 12 разных измерений? s21, s31, s41, s12, s32, s42, s13, s23, s43, s14, s24, s34
И скажем если например подключил порт для замера s43, то порты 1,2 моего девайса на плате должны быть терминированы на 50 Ом, так?
И еще, если например я мерю s43, (заземляа через 50 Ом порты 1,2 естесственно), то то что я вижу на анализаторе как s21 и есть мой s43? таким образом то что я вижу на анализаторе как s12 есть мой s34, верно?
Ну и выходит мне надо тогда не 12 раз переставлять тест бенч а 6 раз (хотя количество замеров всеравно 12)
--------------------
Нажми на кнопку - получишь результат, и твоя мечта осуществится
|