Измерение S-параметров Дифференциального усилителя на плате, Используя только двух-портный векторный анализатор цепей Опции

[BlackOps]

Допустим есть чип, радио усилитель, работающий на частоте ну скажем до 10ГГц, и есть Векторный Анализатор Цепей который тянет до 20ГГц, ну и с комплектом для измерения S параметров.

Дело в том что чип, усилитель, он дифференциальный, а векторный анализатор цепей двух-портный, в идеале естесственно можно на тестовую плату на вход и выход усилителя поставить трансформеры для перехода от single-ended к Differential но дело в том что все(дешевые) трансформеры имеют довольно таки низкие ограничения по частоте, ну максимум тянут на 3ГГц, некоторые с 5 до 7 ГГц итд, одним словом не подходят к требуемому диапазону (хотябы от 100МГц до 10ГГц).

Я находил некоторые решения для такой задачи, т.е. своего рода инструментальные трансформеры для организации такого перехода, но стоят они очень дорого, цена данного решения почти 5500$.


Так вот вопрос, имея только то оборудование которое упомянул в начале, ну и скажем +200$ на другие необходимые детали (стоимость тестовой платы не включаю), как можно измерить параметры данного усилителя, т.е. как сделать это дешево? реально ли вообще?

[BlackOps]

(ну а для симуляции самого девайса можно использовать идеальный балун вобщемто)

Ясно, т.е. я должен сделать итого 12 разных измерений?
s21, s31, s41, s12, s32, s42, s13, s23, s43, s14, s24, s34

И скажем если например подключил порт для замера s43, то порты 1,2 моего девайса на плате должны быть терминированы на 50 Ом, так?

И еще, если например я мерю s43, (заземляа через 50 Ом порты 1,2 естесственно), то то что я вижу на анализаторе как s21 и есть мой s43?
таким образом то что я вижу на анализаторе как s12 есть мой s34, верно?

Ну и выходит мне надо тогда не 12 раз переставлять тест бенч а 6 раз (хотя количество замеров всеравно 12)