Измерение S-параметров Дифференциального усилителя на плате, Используя только двух-портный векторный анализатор цепей Опции

[BlackOps]

Допустим есть чип, радио усилитель, работающий на частоте ну скажем до 10ГГц, и есть Векторный Анализатор Цепей который тянет до 20ГГц, ну и с комплектом для измерения S параметров.

Дело в том что чип, усилитель, он дифференциальный, а векторный анализатор цепей двух-портный, в идеале естесственно можно на тестовую плату на вход и выход усилителя поставить трансформеры для перехода от single-ended к Differential но дело в том что все(дешевые) трансформеры имеют довольно таки низкие ограничения по частоте, ну максимум тянут на 3ГГц, некоторые с 5 до 7 ГГц итд, одним словом не подходят к требуемому диапазону (хотябы от 100МГц до 10ГГц).

Я находил некоторые решения для такой задачи, т.е. своего рода инструментальные трансформеры для организации такого перехода, но стоят они очень дорого, цена данного решения почти 5500$.


Так вот вопрос, имея только то оборудование которое упомянул в начале, ну и скажем +200$ на другие необходимые детали (стоимость тестовой платы не включаю), как можно измерить параметры данного усилителя, т.е. как сделать это дешево? реально ли вообще?

[BlackOps]

ну вобщем вот нашел этот документ:
http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5988-5635EN.pdf

там описаны различные методы, в том числе и метод указанный выше где замеряется single ended методом сигналы, но его недостатки в том, что он не дает точных ресультатов поведения девайса в дифференциальном режиме.

также там описан балун, его недостатки уже упомянуты были (частотный диапазон), плюс ко всему балун не позволяет common-mode поведение девайса узнать т.к. он его тушит.

но вот Simulated mixed-mode method где сначала собираются одиночные измерения, импортируются в симулятор АДС, а затем с двумя трансформерами проводится замер, это кажется точно то что нужно.

Они там описывают еще один метод, Calculated mixed-mode S-parameters method, насколько я понимаю тот метод если налажен то работает быстро (т.к. ненадо много одиночных измерений проводить), но он по моему тоже потребует балун который работает на всем интересующем тебя диапазоне. (и балун нужно отдельно характеризовать тоже)

Поэтому я сделал вывод копать в сторону метода: Simulated mixed-mode method

ну а так если у когото есть что дополнить из собственного опыта, напишите, буду рад посмотреть