В своем первом посте я не указал, для чего это вообще нам нужно. Наша специфика - разработка интегральных схем. В последнне время для ускорения проектирования схемы наше руководство поставило перед нами задачу разработать PDK для некоторых наших процессов. Один из таких процессов должен быть стойким к CВВФ. Одним из этапов нашей работы является создание моделей элементной базы. Одно дело создать обычные модели, другое - модели элементов после облучения. С этим мы никогда не сталкивались и не знаем, что и как необходимо измерять для последующей экстракции параметров моделей. Наши знания в области физики приборов после облучения весьма скромны по сравнению с Вашими, поэтому и обратились с вопросом: может кто-нибудь уже занимался подобным. Информацию о возможностях Вашего предприятия мы получили, спасибо за это. Далее все зависит от нашего руководства: приоритете тех или иных работ, т.к любое измерение после облучения очень затратно. И к тому же мы изначально не рассчитывали на трату такой суммы только на одни измерения.
Сообщение отредактировал TiNat - Apr 26 2013, 10:46
|