реклама на сайте
подробности

 
 
> Аппаратная избыточность в FPGA - реально что-то дает?, По цифрам
syoma
сообщение Jun 6 2014, 05:44
Сообщение #1


Профессионал
*****

Группа: Свой
Сообщений: 1 817
Регистрация: 14-02-07
Из: наших, которые работают за бугром
Пользователь №: 25 368



Народ простите, если баян

Вот недавно был на семинаре, где Xilinxовский человек рассказывал про аппаратную избыточность в Плисах. Мол дескать если места в ПЛИСине навалом, то можно продублировать свой дизайн, и при разводке указать P&R, чтобы оно их поместило в полностью разделенные физически области.

Говорят, что так можно повысить надежность. У меня собственно вопрос - насколько в цифрах? Или вообще как это можно посчитать? Я конечно понимаю, что источник питания - один. И выходы вроде как не дублируются.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
анатолий
сообщение Jun 12 2014, 19:58
Сообщение #2


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 221
Регистрация: 10-12-05
Из: Украина
Пользователь №: 12 052



Здесь: http://www.eetimes.com/author.asp?section_...;doc_id=1320561
говорится следующее:
Сбой ПЛИС, как правило, вызывается высокоэнергетической частицей, ионизировавшей области затворов транзисторов триггера и вызвавшей этим его переключение в противоположное состояние. Фирмы Xilinx, Microsemi выпускают ПЛИС малочувствительные к таким сбоям. И поэтому их применяют в космических аппаратах. Также такие ПЛИС могут накапливать большие дозы радиации до своего отказа.
Как оказалось, с уменьшением проектных норм уменьшается чувствительность к радиации. Так, при переходе от 45 нм ПЛИС к 28 нм ПЛИС чувствительность к сбоям прошивки уменьшилась вдвое .
Это объясняется тем, что уменьшается площадь, занимаемая триггером, и поэтому уменьшается вероятность попадания частицы в него, а не рядом.
Но с другой стороны, для повышения быстродействия уменьшают размеры транзисторов. А триггер с уменьшенными транзисторами легче перевести в другое состояние, и он сбоит чаще. Поэтому при указанном уменьшении проектных норм чувствительность к сбоям BlockRAM уменьшилась лишь на 20%. Поскольку триггеры в ПЛИС концентрируются в BlockRAM, эти блоки стали наиболее ответственными. Поэтому в Virtex-7 вставлены блоки, способные автоматически корректировать одиночные ошибки в байтах, считанных из памяти и детектировать двойные. В ПЛИС Stratix можно детектировать до трех ошибок и корректировать до двух.
Также в этих ПЛИС есть возможность сканировать прошивку и детектировать в ней ошибки и корректировать одиночную ошибку.
Для безошибочной обработки сбойной информации в ПЛИС можно применить тройное резервирование сконфигурированных модулей. Но тогда самой ответственной частью становится мажоритарная схема, выбирающая правильный результат.
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 23rd July 2025 - 11:45
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01365 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016