Калибровка VNA для устройства с большими потерями, Для микрополосковых калибровочных мер Опции

[Stefan1]

Добрый день.
Помогите разобраться как проводить калибровку VNA для невстраиваемого двухпортового устройства с большими потерями. В качестве калибровки использую TRL набор. Недостаток данного подхода заключается в том, что TRL калибровка не учитывает потери на изоляцию (т.е параметр S12 определяется неточно). В моем случае параметр |S12| очень мал, а мне нужно точно его замерить. В наличии есть PNA-L от Agilent. Читал, что в данном случае надо проводить калибровку на изоляцию (forward and reverse isolation). Даст ли результат следующий метод: после проведения TRL калибровки измерить оснастку с мерами LOAD (т.е. при использовании импеданса Z0), поставленных в сечении в котором измеряется устройство?

Сообщение отредактировал Stefan1 - Mar 20 2015, 07:17

[Olesia]

Даст ли результат следующий метод: после проведения TRL калибровки измерить оснастку с мерами LOAD (т.е. при использовании импеданса Z0), поставленных в сечении в котором измеряется устройство?

Результата не будет. По завершении калибровки прибор сделает коррекцию только по полученным при калибровке результатам. А меры Вы же собираетесь измерять после... Посмотрите внимательно, может в приборе все-таки есть возможность выбрать измерение двух нагрузок load на последнем шаге?
Если у вас есть математика, можете вручную учесть измерения нагрузок load при коррекции.



Сообщение отредактировал Olesia - Mar 24 2015, 05:48

[Stefan1]

Результата не будет. По завершении калибровки прибор сделает коррекцию только по полученным при калибровке результатам. А меры Вы же собираетесь измерять после... Посмотрите внимательно, может в приборе все-таки есть возможность выбрать измерение двух нагрузок load на последнем шаге?
Если у вас есть математика, можете вручную учесть измерения нагрузок load при коррекции.

В приборе вроде бы такая возможность есть, но почему-то у меня никак не получается сделать так, чтобы эти измерения "вошли" в калибровку.
Про обработку результата после проведения TRL калибровки я писал в соседней ветке "Rf & Microwave Design" в теме про TRL калибровку: http://electronix.ru/forum/index.php?s=&am...t&p=1323917, Вы имеете ввиду тоже самое или что-то более глобальное?

P.S. Можно эту тему перенести в тему про TRL калибровку.

Сообщение отредактировал Stefan1 - Mar 24 2015, 06:22

[Olesia]

В приборе вроде бы такая возможность есть, но почему-то у меня никак не получается сделать так, чтобы эти измерения "вошли" в калибровку.
Про обработку результата после проведения TRL калибровки я писал в соседней ветке "Rf & Microwave Design" в теме про TRL калибровку: http://electronix.ru/forum/index.php?s=&am...t&p=1323917, Вы имеете ввиду тоже самое или что-то более глобальное?

P.S. Можно эту тему перенести в тему про TRL калибровку.

Можно перенестись, можно остаться... Вы ж автор А какой прибор N5230C PNA-L? Про математику: Имелась ввиду более глобальная математика: когда на приборе Вы только снимаете "сырые" измерения мер и DUTa, а всю коррекцию делаете в мат. программе. Потом, самостоятельно.

Плюс - непонятно, устройства вроде "с большими потерями", а "|S12| очень мал..." Это как? В каких величинах? в дБ и разах соответственно?

Посмотрела help. Надо пошарить в CalKitEditor http://na.support.keysight.com/pna/help/la...als/TRL_Tab.htm и посмотреть, что там приписано для изоляции и приписать.

Сообщение отредактировал Olesia - Mar 24 2015, 09:50

[Stefan1]

Можно перенестись, можно остаться... Вы ж автор А какой прибор N5230C PNA-L? Про математику: Имелась ввиду более глобальная математика: когда на приборе Вы только снимаете "сырые" измерения мер и DUTa, а всю коррекцию делаете в мат. программе. Потом, самостоятельно.

Да, прибор N5230C PNA-L.
Такой математики нету.

Плюс - непонятно, устройства вроде "с большими потерями", а "|S12| очень мал..." Это как? В каких величинах? в дБ и разах соответственно?

Если DUT близок по свойствам к к.з. При этом |S12|=-30 дБ.