Цитата(V_G @ Mar 13 2017, 13:31)
Не думаю, что в ГОСТах что-то найдется, особенно касательно микросхем.
Тема ускоренных испытаний обсуждалась в научных кругах где-то до конца 70-х годов, пока ламповая техника (явно подверженная старению) окончательно не вышла из оборота. Ускоряющим фактором там была температура.
С полупроводниками при таком раскладе много сложнее: деградационные процессы в них можно ощутимо ускорить лишь при ОЧЕНЬ высоких температурах (вероятно, за 1000 градусов). Естественно, при таких температурах вся обвязка полупроводника выйдет из строя.
Другим ускоряющим фактором является радиация, но тут проблемы и с закрытостью, и с опасностью исследований.
Но ведь в данном случае вопрос состоит не в том чтобы определить ресурс микросхемы с помощью ускоряющего фактора. А вопрос, как я его понимаю, вот в чем, каким способом (сколько циклов необходимо) можно ускорить с помощью климатики (температура +/-, перепады температур, влажность и т.д.), как например в ГОСТ Р 51372-99. Интересует опыт людей, как они подтверждали срок.
Сейчас подумал вот о чем. Интересно, если мы подтверждаем наработку до отказа в режиме эксплуатации, например 200 тыс. часов (т.е. ~23 года), имеем ли мы право утвердительно заявить что мы подтвердили сохраняемость равную 23 года?
P.S: Заранее извиняюсь, если это покажется кому-нибудь глупостью, я только учусь.
Сохраняемость, Ускоренные испытания
Mar 13 2017, 04:42
