Вот столкнулся с некачественной пайкой шин адреса (18 битов) или данных (16 битов), я так думаю. Не вижу, где. Тот тест, что имелся, просто сигналит, что не пройден. У меня просто младшая часть адреса записывалась, а потом читалась. В-общем, если все нормально, то тест проходил. Примитивно. Хочу сделать правильный тест, более информативный. Определить, где адрес или данные неправильные и выдать текстом в последовательный порт. Кто-нибудь делал подобное? Поделитесь соображениями или ссылками.
Оказалось, закоротились два соседних бита данных прямо на плате между переходными отверстиями. Нужно вычислять такие ошибки.
Группа: Свой
Сообщений: 491
Регистрация: 16-01-05
Из: Санкт-Петербург
Пользователь №: 1 987
Ну, предполагается, что при обнаружении ошибки тест будет выводить некоторые ее детали, ну, как минимум: - адрес ячейки; - ожидаемое значение; - актуальное значение.
Тестирующий далее включает устройство под названием мозг (или "моск" - это уж у кого как :-)), анализирует и делает выводы. Возможно, еще что-то допроверяет-дотестирует. Или у вас задача стоит - пусть "вкалывают роботы, а не человек" ?
Алгоритм теста внешнего статического ОЗУ.
Nov 10 2017, 14:46
