Алгоритм теста внешнего статического ОЗУ. Опции

[ViKo]

Вот столкнулся с некачественной пайкой шин адреса (18 битов) или данных (16 битов), я так думаю. Не вижу, где. Тот тест, что имелся, просто сигналит, что не пройден. У меня просто младшая часть адреса записывалась, а потом читалась. В-общем, если все нормально, то тест проходил. Примитивно. Хочу сделать правильный тест, более информативный. Определить, где адрес или данные неправильные и выдать текстом в последовательный порт. Кто-нибудь делал подобное? Поделитесь соображениями или ссылками.


Оказалось, закоротились два соседних бита данных прямо на плате между переходными отверстиями. Нужно вычислять такие ошибки.

[AnatolyT]

тут контроль шины, устанавливаем все биты шины адреса в 1, последовательно переводим в 0 каждый бит шины, проверяем состояние шины;
для шины данных, переводим внешнее озу в третье состояние и тоже самое делаем с шиной данных.

[k155la3]

тут контроль шины, устанавливаем все биты шины адреса в 1, последовательно переводим в 0 каждый бит шины, проверяем состояние шины;
для шины данных, переводим внешнее озу в третье состояние и тоже самое делаем с шиной данных.

(+)
я подобным образом проверял подключенность шины I2C.
Если в контроллере есть возможность включения pull up/down подтяжек по входам,
то легко организуетя (само)проверка на замыкания линий шины между собой и на другие проводники.