Алгоритм теста внешнего статического ОЗУ. Опции

[ViKo]

Вот столкнулся с некачественной пайкой шин адреса (18 битов) или данных (16 битов), я так думаю. Не вижу, где. Тот тест, что имелся, просто сигналит, что не пройден. У меня просто младшая часть адреса записывалась, а потом читалась. В-общем, если все нормально, то тест проходил. Примитивно. Хочу сделать правильный тест, более информативный. Определить, где адрес или данные неправильные и выдать текстом в последовательный порт. Кто-нибудь делал подобное? Поделитесь соображениями или ссылками.


Оказалось, закоротились два соседних бита данных прямо на плате между переходными отверстиями. Нужно вычислять такие ошибки.

[ViKo]

Мне нужна была реально не проверка ячеек ОЗУ (маловероятно, что ОЗУ неисправно), а именно шин адреса и данных - незапаянных, закороченных на землю или питание, закороченных между собой. Вот эти неисправности хочу находить. Пока не занимался, поскольку неисправность уже нашел и устранил.

[_Thomas_]

Мне нужна была реально не проверка ячеек ОЗУ (маловероятно, что ОЗУ неисправно), а именно шин адреса и данных - незапаянных, закороченных на землю или питание, закороченных между собой. Вот эти неисправности хочу находить. Пока не занимался, поскольку неисправность уже нашел и устранил.

Я это понял. При логировании ошибок (что должно быть, что на самом деле, адрес) и небольшом анализе логов нескольких прогонов - выявление коротышей/непропая задача довольно-таки тривиальная.

[ViKo]

Я это понял. При логировании ошибок (что должно быть, что на самом деле, адрес) и небольшом анализе логов нескольких прогонов - выявление коротышей/непропая задача довольно-таки тривиальная.

Пока одна закоротка - да. А если две - уже не так просто.
Мне и нужен не просто лог ошибок, а результат анализа, который сам микроконтроллер сделает. В порт выдаст - какая ошибка, чем вызвана.