Подскажите, пжл, а делал ли кто-нибудь замеры сигнала при помощи дифференциального пробника с осциллографом, с соответствующей полосой пропускания, в дифпаре на плате между трансивером типа GTX(или аналогичного) и, скажем - оптическим модулем SFP+ на скоростях 1-10 Гб? Есть ли смысл в этих замерах, можно ли там что-либо качественное для понимания увидеть? Просто, ежели брать IBERT-ядро для FPGA Xilinx, то оно, насколько я понимаю, выводит данные в виде картинки а-ля "глазковая диаграмма", которая по сути глазковой диаграммой не является. Т.к., выводит фактически распределение ошибок в канале передачи, подкрашенное разными цветами и напоминающее глазковую диаграмму. А на осциллографе мы можем видеть именно глазковую диаграмму и смотреть тот же джиттер. Но, с другой стороны, если в канале не все хорошо и частотная характеристика канала завалена кривыми руками проектировщика платы, то что мы увидим на экране осциллографа? Белиберду? Ведь, ЧХ канала потом еще выравнивается эквалайзером в приемнике. Кто делал такие измерения а не просто бла-бла на эту тему, поделитесь опытом.
Не знаю точно - куда данный вопрос разместить, поэтому продублирую в теме
проектирование печатных плат. Т.к., темы смежные. Может, кто занимается измерениями на плате и моделированием SI высокоскоростных трасс а, может, программирует FPGA, крутит настройки эквалайзера и тоже проводит измерения осциллографом.
Сообщение отредактировал keln - Feb 3 2018, 14:24
Высокоскоростные трансиверы, Измерение приборами
Feb 3 2018, 14:20
