Как писать или генерировать тест - кейсы(векторы) для автоматического тестирования встроенной электроники? Опции

[syoma]

Сорри за дубляж, попробую тут задать. Ограничусь электроникой.

Собственно вопрос такой - допустим у вас есть разработанное управляющее встроенное устройство, работающее по определенной программе. Как упрощенный пример - управляющий блок автомобильной сигнализации: входы для датчиков, выходы на блокировку зажигания, управления центральным замком, сиреной, поворотниками, брелок для дистанционной блокировки/разблокировки (допустим в целях тестирования эти сигналы тоже электрически доступны). Внутри есть программа, обычная для сигнализации - режим охраны/тревоги/снятой с охраны, помигать поворотниками три раза, снятие/постановка/блокировка и т.д.

Допустим у вас есть автоматический испытательный стенд, к которому подключается данный блок и который может сгенерировать любую комбинацию входных сигналов и прочитать то, что выдает тестируемый блок в ответ. При этом, ессно, следующая комбинация может зависеть от того, что выдал блок. Можно играться питанием блока, например менять питающее напряжение программно.
Ну то есть фактически стенд может имитировать все, что угодно, даже реальный автомобиль, что и используется при разработке и отладке ПО, но больше интересует, как можно применить данный стенд для автоматического разностороннего тестирования производимых блоков на этапе производства, чтобы выявить возможные дефекты сборки, компонентов.
То есть должно быть возможным написание тестовых векторов, которые бы в итоге покрыли 100% электроники тестами. Вопрос - как это сделать, чтобы количество таких тестов было более-менее оптимальным? Возможно ли автоматизировать написание таких тестов, если их надо будет достаточно много?

Спасибо.

[Bulaev]

А в составе тестируемого устройства есть ПЛИС? Доступ к памяти?

[syoma]

А в составе тестируемого устройства есть ПЛИС? Доступ к памяти?

Только микроконтроллер. Помимо него на плате куча различных оптронных развязок и мультиплексоров.

[Bulaev]

Только микроконтроллер. Помимо него на плате куча различных оптронных развязок и мультиплексоров.

Тогда, в Вашем случае, придется относится к устойству как к «черному ящику», и писать тесты на ATE пользуясь лишь поведенческой моделью. Для ПЛИС можно было бы сгенерировать тесты из САПР, память сравнивать с прошивкой. Но и тогда это не будет 100 % тестовым покрытием, т.к. не будет перебора всех возможных комбинаций. Сконцентрируйтесь на измерении электрических параметров, измерьте ток потребления в различных режимах работы, сравните полученные значения по партии Ваших устройств.