Цитата(Radeon @ Feb 2 2005, 11:03)
Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например:
- погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя...
- смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора...
И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров.
Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти.
Эх, молодежь... Вот смотрю datasheet AD578(9).
INTERNAL REFERENCE
Voltage 10.000 ± 100 mV
Drift ±12 ppm/°C, ±20 ppm/°C max
TEMPERATURE COEFFICIENTS
Gain ±15 ppm/°C typ ±30 ppm/°C max
Unipolar Offset ±3 ppm/°C ±10 ppm/°C max
Bipolar Offset ±8 ppm/°C typ ±20 ppm/°C max
POWER SUPPLY SENSITIVITY
+15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
–15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
+5 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
TRANSFER CHARACTERISTICS
Gain Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Unipolar Offset ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Bipolar Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Linearity Error, 25°C ±1/2 LSB max
TMIN to TMAX ±3/4 LSB
Внимательно посмотрите на эти цифры и вспомните КАК работает АЦП последовательного приближения. Видно, что температурная погрешность Gain на 2/3 определяется погрешностью Vref и на 1/3(оставшуюся)- ЦАПом. И т.д. и т.п.