реклама на сайте
подробности

 
 
> Погрешности АЦП и ЦАП, Обсуждение погрешностей АЦП и ЦАП
Radeon
сообщение Jan 28 2005, 07:45
Сообщение #1





Группа: Новичок
Сообщений: 4
Регистрация: 28-01-05
Пользователь №: 2 250



В настоящее время занимаюсь анализом составляющих погрешностей АЦП и пришел к интересному заключению что либо доскональным анализом занимается ограниченное число людей не имеющих доступа в инет, либо не занимаются вообще.
Подскажите пожалуйста каково типичное соотношение составляющих суммарной погрешности имеющих аддитивный и мультипликативный характер.
Чем определяется суммарная погрешность АЦП? Применяемым ЦАП, усилителем, компаратором, уходом опоры и тд? И каково, интересно, участие каждого из элементов?
Если кто знает где это найти, расскажите.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
Radeon
сообщение Feb 2 2005, 08:03
Сообщение #2





Группа: Новичок
Сообщений: 4
Регистрация: 28-01-05
Пользователь №: 2 250



Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например:
- погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя...
- смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора...
И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров.
Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
KOME
сообщение Feb 8 2005, 10:05
Сообщение #3


Участник
*

Группа: Свой
Сообщений: 23
Регистрация: 29-10-04
Пользователь №: 1 006



Цитата(Radeon @ Feb 2 2005, 11:03)
Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например:
- погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя...
- смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора...
И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров.
Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти.
*

Эх, молодежь... Вот смотрю datasheet AD578(9).

INTERNAL REFERENCE
Voltage 10.000 ± 100 mV
Drift ±12 ppm/°C, ±20 ppm/°C max

TEMPERATURE COEFFICIENTS
Gain ±15 ppm/°C typ ±30 ppm/°C max
Unipolar Offset ±3 ppm/°C ±10 ppm/°C max
Bipolar Offset ±8 ppm/°C typ ±20 ppm/°C max

POWER SUPPLY SENSITIVITY
+15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
–15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
+5 V ± 10% 0.005%/%∆VS max

TRANSFER CHARACTERISTICS
Gain Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Unipolar Offset ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Bipolar Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Linearity Error, 25°C ±1/2 LSB max
TMIN to TMAX ±3/4 LSB

Внимательно посмотрите на эти цифры и вспомните КАК работает АЦП последовательного приближения. Видно, что температурная погрешность Gain на 2/3 определяется погрешностью Vref и на 1/3(оставшуюся)- ЦАПом. И т.д. и т.п.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
KOME
сообщение Feb 9 2005, 04:30
Сообщение #4


Участник
*

Группа: Свой
Сообщений: 23
Регистрация: 29-10-04
Пользователь №: 1 006



Цитата(KOME @ Feb 8 2005, 13:05)
Цитата(Radeon @ Feb 2 2005, 11:03)
Прошел по документации АЦП Analog Device and Atmel, но никто из них не соизволил привести не то что нормируемую погрешность структурных элементов АЦП, но даже и примерную долю вносимую в каждую из составляющих. Например:
- погрешность полной шкалы обусловлена влиянием погрешностей ИОН, делителя, усилителя...
- смещение нуля возникает из-зи токов утечки ключей ЦАП, смещения усилителя или (И) компаратора...
И т.д. но никто (и я полагаю это естественно) не указывает таких параметров.
Но наверняка есть теоретические выкладка на эту тему. Вот только я не могу их найти.
*

Эх, молодежь... Вот смотрю datasheet AD578(9).

INTERNAL REFERENCE
Voltage 10.000 ± 100 mV
Drift ±12 ppm/°C, ±20 ppm/°C max

TEMPERATURE COEFFICIENTS
Gain ±15 ppm/°C typ ±30 ppm/°C max
Unipolar Offset ±3 ppm/°C ±10 ppm/°C max
Bipolar Offset ±8 ppm/°C typ ±20 ppm/°C max

POWER SUPPLY SENSITIVITY
+15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
–15 V ± 10% 0.005%/%∆VS max
+5 V ± 10% 0.005%/%∆VS max

TRANSFER CHARACTERISTICS
Gain Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Unipolar Offset ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Bipolar Error ±0.1% FSR, ±0.25% FSR max
Linearity Error, 25°C ±1/2 LSB max
TMIN to TMAX ±3/4 LSB

Внимательно посмотрите на эти цифры и вспомните КАК работает АЦП последовательного приближения. Видно, что температурная погрешность Gain на 2/3 определяется погрешностью Vref и на 1/3(оставшуюся)- ЦАПом. И т.д. и т.п.
*


Ерунду написал.
В общем на постоянном токе Vin=((Vref+dVref)/(GAIN+dGAIN))*(Nout/Nmax)+-(Voffcomp+-dVoffcomp)+-Vinl+-Vdnl
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 20th July 2025 - 10:58
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01369 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016