Уважаемый Ю.В.Потапов.
К большому сожелению, по многим вопросам документация в виде книги В.Д.Разевиг, Ю.В.Потапов, А.А.Курушин Проектирование СВЧ устройств с помощью Micwave Office. - Москва: Солон-Пресс, 2003, скорее вносит больше недоразумений, чем оказыват помощь. Так, например, на стр. 135 в табл. 4.1 указано, что программа осуществляет расчет Эффективной диэлектрической проницаемости линии со стороны порта (Er_ port). На самом деле осуществляется расчет комплексной диэлектрической проницаемости - искусственно вводимого параметра. Если Eps_eff, по классике, - это эквивалент дисперсионной характеристики, то параметр, рассчитываемый в MWO характеризует лишь соотношение между токами проводимости и смещения.
Аналогичная ситуациция с исскуственно вводимыми опорными плоскостями (рефренсными). об этом достаточно подробно написано на форуме.
Цитата(Yuri Potapoff @ Mar 6 2007, 12:24)

Скорее всего не сдвинуты референсные плоскости. Налицо упорное нежелание читать документацию.