Целесообразность тестирования памяти и регистров Опции

[Guest_Serg79_*]

В данной теме мне хотелось бы обсудить вопрос целесообразности проведения тестирований памяти и регистров микроконтроллера.

Теперь хочу высказать свои мысли по этому поводу. Одним из главных требований выдвигаемых к программному обеспечению (ПО) для встраиваемых систем, это – контроль и проверка правильного функционирования рабочего окружения программы. К этому набору относятся, касательно микроконтроллеров AVR, регистры общего назначения (РОН), оперативно запоминающее устройство (ОЗУ), регистр состояния выполнения программы (SREG), память хранящая код программы (FLASH) и устройства с которыми работает программа (USART, ADC, TWI и т.д.).
Так что в независимости от того хочешь ты этого или не хочешь, твоя программа помимо того что должна соответствовать требованиям выдвигаемым “техническим заданием”, дополнительно должна выполнять все требования предъявляемые к ПО для встраиваемых систем.

Высказывания такого характера как: ”Да что их проверять, за всю мою долгую историю собирания разных устройств на коленка, еще не у одного контроллера не выбило ячейку памяти” или ”Этого не может быть потому что этого не может” и ”т.д.”, просто не выдерживают никакой критики.

А вот вопросы касающиеся целесообразности проверки того или иного узла микроконтроллера и глубины проверки одного взятого узла мне бы и хотелось здесь обсудить.

Вот я и хочу услышать мнение тех людей, которым приходилось сталкиваться с данными вопросами, а так же послушать их высказывания по этому поводу и методы решения этих проблем.

[Kovrov]

Тоже очень больной вопрос....
У меня в одном проекте иммется тестирование сначала регистров потом озу.
кристалл м16
если косяк - зажигаю группу светодиодов
И что характерно....
наблюдал очень непонятный момент...
во первых... сколько не шил партий всегда все гладко запускалось
т.е тест проходил без ошибок
но тем не менее на одном из объектов произошел отказ
ну то се... вообщем взял конроллер на исследование..
действительно, наблюдал непрохождение теста, причем самое непонятное то, что при внешнем ресете проц запускался и работал какое то время без сбоев там 3-4 часа
потом чувствовался ватч дог или переполнение стека и проц шел на вектор ресета...
так вот...
если процу щелкнуть питанием то тест озу не проходил...
причем это наблюдалось в 100%
ну естествеено храню этот камень как дорогую реликвию - для опытов :-)
посему считаю что тест флеша и тест регистров и озу очень желеательным.

[Dog Pawlowa]

Тоже очень больной вопрос....
...
посему считаю что тест флеша и тест регистров и озу очень желеательным.

Любой чужой опыт, хм, дополняет мои представления.

Но такой аспект. На полупроводники сильно влияют окружающие условия. У нас на заводике все приборы тестируются в предельных рабочих режимах по температуре и напряжению. Мне кажется это гораздо важнее и эффективнее, чем прогон простейшего теста компонентов при наладке.
Вы спросите - а как же диагностика и поиск неисправности?
Отвечу. Был такой опыт на заре микроконтроллерных устройств - отдали в производство прибор, с идеальной, как казалось, диагностикой - на каждом модуле был светодиодик, который гасился только в случае успешного прохождения теста этого модуля. Оказалось, что жизнь богаче, что эта классная диагностика может давать ложные ошибки, и пропускать реальные. А обыкновенный наладчик без образования находит причину отказа проще, не вдаваясь в высшие материи.

Поэтому вопрос о цене вопроса (сорри за каламбур). Ну, отказал контроллер, ну выкинули его, дальше работаем. В приведенном случае он отказал уже у клиента. И какая разница, что показала диагностика. Отказ то произошел.