Целесообразность тестирования памяти и регистров Опции

[Guest_Serg79_*]

В данной теме мне хотелось бы обсудить вопрос целесообразности проведения тестирований памяти и регистров микроконтроллера.

Теперь хочу высказать свои мысли по этому поводу. Одним из главных требований выдвигаемых к программному обеспечению (ПО) для встраиваемых систем, это – контроль и проверка правильного функционирования рабочего окружения программы. К этому набору относятся, касательно микроконтроллеров AVR, регистры общего назначения (РОН), оперативно запоминающее устройство (ОЗУ), регистр состояния выполнения программы (SREG), память хранящая код программы (FLASH) и устройства с которыми работает программа (USART, ADC, TWI и т.д.).
Так что в независимости от того хочешь ты этого или не хочешь, твоя программа помимо того что должна соответствовать требованиям выдвигаемым “техническим заданием”, дополнительно должна выполнять все требования предъявляемые к ПО для встраиваемых систем.

Высказывания такого характера как: ”Да что их проверять, за всю мою долгую историю собирания разных устройств на коленка, еще не у одного контроллера не выбило ячейку памяти” или ”Этого не может быть потому что этого не может” и ”т.д.”, просто не выдерживают никакой критики.

А вот вопросы касающиеся целесообразности проверки того или иного узла микроконтроллера и глубины проверки одного взятого узла мне бы и хотелось здесь обсудить.

Вот я и хочу услышать мнение тех людей, которым приходилось сталкиваться с данными вопросами, а так же послушать их высказывания по этому поводу и методы решения этих проблем.

[SasaVitebsk]

Можно проверить CRC EEPOM и FLASH, как самые вероятные причины отказов. Остальное проверить сложно и малополезно и нет 100% вероятности выявления неисправности. И вообщем то с переходом на импортные микросхемы дефекты стали настолько редки, что про тестирование процессора можно и забыть. Лучше обратить внимание на качество остальных элементов, особенно электролитических конденсаторов. Нонэйм электролиты, качество пайки, тепловые и электрические режимы - вот теперь на что смотреть надо.

Совершенно согласен. Безусловно если есть внешние элементы (в том числе и память) то проверять можно и даже нужно. Желательно тесты памяти использовать как предлагалось. То есть динамический тест с записью данных в ОЗУ по определённому алгоритму а потом сравнение. Ну и диагональные. Статические тесты, как правило показывают только полную неработоспособность памяти в целом.

Я, если есть возможность, и при сложной задаче, иногда её разбиваю на модули. Каждый со своим МК. Связь по последовательному интерфейсу. Как правило такие системы работают надёжнее чем один МК со сложной обвеской. (если не использовать ПЛМ). Да и разрабатывать полегче.