Boundary-scan testing LPC2000 Опции

[rezident]

Господа, просвятите меня пожалуйста, поддерживают ли ARM фирмы Philips LPC2000 Boundary-scan testing? Т.е. можно ли их каскадировать на JTAG друг с другом и/или с другими устройствами типа CPLD и/или FPGA? Нигде не нашел вразумительного ответа по этому поводу.

[acex2]

Господа, просвятите меня пожалуйста, поддерживают ли ARM фирмы Philips LPC2000 Boundary-scan testing? Т.е. можно ли их каскадировать на JTAG друг с другом и/или с другими устройствами типа CPLD и/или FPGA? Нигде не нашел вразумительного ответа по этому поводу.

Конечно можно, как и любую ИС с JTAG.

[rezident]

Конечно можно, как и любую ИС с JTAG.

Где об этом написано/сказано? Вы только слышали/читали или сами применяли каскадирование (именно с LPC)?

[acex2]

Конечно можно, как и любую ИС с JTAG.

Где об этом написано/сказано? Вы только слышали/читали или сами применяли каскадирование (именно с LPC)?

Честно признаюсь, конкретно фразы "LPC21xx precisely supports boundary-scan testing in chain" я не встречал. Но сама идея граничного сканирования как раз в этом и заключается, что устройству грубо говоря "по барабану" подключено оно в цепочке с другими устройствами или напрямую к адаптеру JTAG. В любом случае получается обычный последовательный регистр: от TDO к TDI, и так далее по цепочке. Просто не надо забывать про буфера на TCK и TMS если в цепи стоит много устройств и частота JTAG высокая. Опять же, помним про pull-up или преобразователи уровней, если стоят устройства с принципиально разными напряжениями I/O.

Вы свою проблему подробнее опишите, тогда проще будет подсказать в каком направлении искать.