Boundary-scan testing LPC2000 Опции

[rezident]

Господа, просвятите меня пожалуйста, поддерживают ли ARM фирмы Philips LPC2000 Boundary-scan testing? Т.е. можно ли их каскадировать на JTAG друг с другом и/или с другими устройствами типа CPLD и/или FPGA? Нигде не нашел вразумительного ответа по этому поводу.

[d__]

Имеет место недопонимание того фактора, что ЛПЦ построен на базе ядра ARM7TDMI от фирмы ARM Limited. И работа по интерфейсу JTAG определяется именно этим компонентом системы. Описание работы находится в даташите фирмы ARM Limited http://www.arm.com/pdfs/DDI0234A_7TDMIS_R4.pdf. Ну так вот на странице 146 написано примерно следующее:
BYPASS (1111)
The BYPASS instruction connects a 1 bit shift register (the
BYPASS register) between TDI and TDO.
When the BYPASS instruction is loaded into the instruction
register, all the scan cells are placed in their normal (system)
mode of operation. This instruction has no effect on
the system pins.
In the CAPTURE-DR state, a logic 0 is captured by the
bypass register. In the SHIFT-DR state, test data is shifted
into the bypass register via TDI and out via TDO after a
delay of one TCK cycle. Note that the first bit shifted out will
be a zero. The bypass register is not affected in the
UPDATE-DR state. Note that all unused instruction codes
default to the BYPASS instruction.

В стандарте 1149 описано назначение и применение функции BYPASS
Ну я вчера пробовал намекать на это но мое послание почему-то было уничтожено...

[alexf]

Имеет место недопонимание того фактора, что ЛПЦ построен на базе ядра ARM7TDMI от фирмы ARM Limited.

Еще добавлю что команда BYPASS обязательна для любого JTAG устройства.
И кстати всегда состоит из одних единиц, так что неизвестное устройство тоже переведется в BYPASS когда со входа сдвигаются "1111111....1".
Наблюдая когда появится "1" на выходе можно определить общюю длинну цепи командных регистров.