Расчет надежности на этапе эскизного проектирования Опции

[Bogatyr]

Передо мной стоит следующая задача. У нас сейчас идет эскизное проектирование и необходимо орентировочно посчитать среднюю наработку на отказ, среднее время восстановления, срок службы и срок хранения. Я никогда не занимался расчетом надежности, но специалистов по данной теме у нас не хватает...

Разрабатываемое устройство представляет собой основную техническую систему для которой
средняя наработка на отказа = 1/L, L - интенсивность отказов (ИО) системы, которая равна сумме
интенсивностей отказов блоков устройства.

Интенсивность отказов каждого блока мы получили по примерной элементной базе каждого блока просто сложив ИО примерного количества радиоэлементов помноженных на соответствующие ИО. Вопрос - можно так делать или нет?

Потом мучают следующие вопросы:

- заданная наработка на отказ для устройства по ТЗ 12000 ч, в устройстве предполагается 10 модулей, тогда получается, что наработка на отказ каждого модуля примерно по 150 000 ч, когда допустим, что наработка на отказ микросхемы в среднем 100 000 ч. Реально ли такое что наработка на отказ модуля будет выше чем наработка на отказ отдельных радиоэлементов, входящих в данный модуль?

- как и можно ли посчитать примерный срок службы и срок хранения устройства на этапе эскизного проектирования ?

[Oldring]

Передо мной стоит следующая задача. У нас сейчас идет эскизное проектирование и необходимо орентировочно посчитать среднюю наработку на отказ, среднее время восстановления, срок службы и срок хранения. Я никогда не занимался расчетом надежности, но специалистов по данной теме у нас не хватает...

Разрабатываемое устройство представляет собой основную техническую систему для которой
средняя наработка на отказа = 1/L, L - интенсивность отказов (ИО) системы, которая равна сумме
интенсивностей отказов блоков устройства.

Интенсивность отказов каждого блока мы получили по примерной элементной базе каждого блока просто сложив ИО примерного количества радиоэлементов помноженных на соответствующие ИО. Вопрос - можно так делать или нет?

Потом мучают следующие вопросы:

- заданная наработка на отказ для устройства по ТЗ 12000 ч, в устройстве предполагается 10 модулей, тогда получается, что наработка на отказ каждого модуля примерно по 150 000 ч, когда допустим, что наработка на отказ микросхемы в среднем 100 000 ч. Реально ли такое что наработка на отказ модуля будет выше чем наработка на отказ отдельных радиоэлементов, входящих в данный модуль?

- как и можно ли посчитать примерный срок службы и срок хранения устройства на этапе эскизного проектирования ?

Исходя из простейших соображений теории вероятности, а именно, независимости событий отказа компонентов и предположения о пуассоновости процесса выхода компонентов из строя, можно сделать вывод, что так считать, как Вы считаете, нужно. Если же применять более сложные модели отказов компонентов, например, что флешка в блоке умирает наверняка после 100000 циклов перезаписи, но без перезаписи живет несравнимо дольше, то объединение в системе 10 таких микросхем с целью уменьшить нагрузку на каждую микросхему, должно привести к увеличению наработки на отказ системы почти в 10 раз. Это IMHO.

Но если микросхема имеет наработку на отказ 100000 часов, причем, в ней не применяются такие экстремальные технологии, вроде перезаписываемой флеши - то это плохая микросхема IMHO. Где-то было написано, что обычные микросхемы проектируют на срок службы 40 лет. Но китайцы могут "оптимизировать" процессы.