реклама на сайте
подробности

 
 
> Расчет надежности на этапе эскизного проектирования
Bogatyr
сообщение Jul 11 2007, 06:07
Сообщение #1


Участник
*

Группа: Новичок
Сообщений: 25
Регистрация: 24-03-07
Пользователь №: 26 466



Передо мной стоит следующая задача. У нас сейчас идет эскизное проектирование и необходимо орентировочно посчитать среднюю наработку на отказ, среднее время восстановления, срок службы и срок хранения. Я никогда не занимался расчетом надежности, но специалистов по данной теме у нас не хватает...

Разрабатываемое устройство представляет собой основную техническую систему для которой
средняя наработка на отказа = 1/L, L - интенсивность отказов (ИО) системы, которая равна сумме
интенсивностей отказов блоков устройства.

Интенсивность отказов каждого блока мы получили по примерной элементной базе каждого блока просто сложив ИО примерного количества радиоэлементов помноженных на соответствующие ИО. Вопрос - можно так делать или нет?

Потом мучают следующие вопросы:

- заданная наработка на отказ для устройства по ТЗ 12000 ч, в устройстве предполагается 10 модулей, тогда получается, что наработка на отказ каждого модуля примерно по 150 000 ч, когда допустим, что наработка на отказ микросхемы в среднем 100 000 ч. Реально ли такое что наработка на отказ модуля будет выше чем наработка на отказ отдельных радиоэлементов, входящих в данный модуль?

- как и можно ли посчитать примерный срок службы и срок хранения устройства на этапе эскизного проектирования ?
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
Ильдус
сообщение Jul 15 2007, 18:54
Сообщение #2


Местный
***

Группа: Участник
Сообщений: 230
Регистрация: 5-07-05
Пользователь №: 6 552



Цитата(Bogatyr @ Jul 11 2007, 10:07) *
Разрабатываемое устройство представляет собой основную техническую систему для которой
средняя наработка на отказа = 1/L, L - интенсивность отказов (ИО) системы, которая равна сумме
интенсивностей отказов блоков устройства.


Если система подвержена внешним воздействующим факторам (ВВФ), причем на разных режмах разные ВВФ, например на самолете, то мы давно пользуемся следующей формулой:

Тс = (Тп + Тз) / (Тп * Lпол + Тз * Lз + Тхр * Lхр),
где Тс - наработка на отказ и неисправность, выявленную в полете и на земле;
Тп - среднегодовой налет;
Тз = 0,1*Тп - время проверки на земле за год;
Тхр = Тгод - (Тп - Тз) - время хранения.
Тгод = количество часов в году.
L... - это соответсвующая лямда.

Если все это без ВВФ, то Тп+Тз=среднегодовой наработке, и L одна и та же.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Bogatyr
сообщение Jul 18 2007, 11:42
Сообщение #3


Участник
*

Группа: Новичок
Сообщений: 25
Регистрация: 24-03-07
Пользователь №: 26 466



Откуда такая формула? Можно ссылку на ГОСТ || ОСТ || другую литературу?
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 27th July 2025 - 02:26
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01374 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016