реклама на сайте
подробности

 
 
> Интересует информация о Bist и ATPG
Добрый Бяк
сообщение Aug 9 2007, 10:43
Сообщение #1





Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-08-07
Пользователь №: 29 674



В целях повышения квалификации интересуют вопросы связанные с самотестированием цифровых схем (теория, САПР для синтеза структур) и автоматическое создание тестов. В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
soshnev
сообщение Aug 10 2007, 08:27
Сообщение #2


Частый гость
**

Группа: Новичок
Сообщений: 119
Регистрация: 26-08-05
Пользователь №: 7 989



Цитата(Добрый Бяк @ Aug 9 2007, 14:43) *
В целях повышения квалификации интересуют вопросы связанные с самотестированием цифровых схем (теория, САПР для синтеза структур) и автоматическое создание тестов. В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.


ПОМОЖЕМ НОВЫМ ЧЛЕНАМ ФОРУМА !!!

Я этим непосредственно не занимаюсь, но кое-что могу вспомнить...
Заранее извиняюсь за то, что возможно не скажу что-то нового ...

1. Теория выходит теперь уже из прошлого века.

Основной вопрос был как проверить на годность схему (или автомат) при производстве.
Для этого надо было создать диагностические тесты. Они должны быть полными
и их должно быть как можно меньше (сокращение времени измерения).
Здесь в теории появляются термины:
-- диагностические тесты
-- наблюдаемость
-- управляемость
-- полнота покрытия тестов (полнота тестов)
-- константная неисправность
-- моделирование неисправностей

Основные решения для сокращения тестов (про которые я что-то знаю) :

- вcтраиваимые пути сканирования в аппаратуре (см. у программ синтеза
synopsys,synplify и др.), JTAG и т п.
- автоматический синтез тестов (например, через моделирование неисправностей
"внедряется например по очереди константная неисправность 0 или 1 для каждого узла
комбинационной схемы и генерятся ("наблюдаются") тесты способные её выявить...)
(см. программы генерации тестов типа tetramax))

2. Рекомендую ключи для поиска:
- tetramax, tesgen(очень общий ключ),FaultSim.
- ключевые слова по теории из п.1.

Изначально было ПО под названием HILO, у CADENCE что-то типа DANTES.
Попробуй поискать документацию у synopsys и cadence.

3. Дальнейшие подробности могу сообщить в зависимости от ответа на след. вопрос:

А с какой целью интересует этот вопрос? Что планируется - использовать какое-то ПО
или создавать своё ПО, или что-то другое?
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 23rd August 2025 - 18:19
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01386 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016