реклама на сайте
подробности

 
 
> Тестирование FPGA. Как ?, Поиск средства для тестирования
Uuftc
сообщение Jul 10 2005, 12:09
Сообщение #1


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 234
Регистрация: 3-10-04
Из: Кукуево-Дальнее
Пользователь №: 767



Вот тут задумался, а каким средством можно через jtag протестировать чип, т.е. что все логические элементы в нем живы и прекрасно себя чувствуют...
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
makc
сообщение Jul 10 2005, 18:48
Сообщение #2


Гуру
******

Группа: Админы
Сообщений: 3 621
Регистрация: 18-10-04
Из: Москва
Пользователь №: 904



Цитата(beg @ Jul 10 2005, 20:35)
Xilinx, например для этой цели предлагает продукт ChipScopePro. Тестируется правда не весь чип, а только то, что вошло в проект, причем отладка происходит на реальной скорости проекта. Сам еще с ним не работал, только документацию прочитал, но решил, что обязательно буду применять.
*


Это немного не то, т.к. ChipScope - это возможность встраивания логического анализатора внутрь отлаживамого на ПЛИС проекта. Т.е. изначально предполагается, что кристалл ПЛИС исправен и необходима отладка разработанной пользователем прошивки ПЛИС.

Конечно, можно считать, что таким образом можно загрузить эталонный проект и далее с помощью ChipScope смотреть на его работу, но нужно помнить, что и сами блоки реализуются с помощью ЛЭ ПЛИС, т.е. это начинает больше походить на самотестирование в выдачей результата пользователю. К тому же лично мне кажется, что достоверность такой проверки практически равна нулю, т.к. число используемых в отдельном проекте способов связи элементов ПЛИС и вариантов их конфигурации ничтожно мало по сравнению с максимально возможным их числом.

Цитата(ilya79 @ Jul 10 2005, 20:32)
makc>>А как Вы себе представляете алгоритм подобного тестирования?

Не знаю как все остальные, но Xilinx точно поддерживает Boundary Scan.
В этом режиме все pin-ы обьеденяються как сдвиговый регистр и можно на любой i-o выставить нужный сигнал либо считать значение i-o. Как реализовать динамику правда не знаю smile.gif
*


Да, это мне известно. И на основе этого можно предложить создать проекты, которые бы пропускали сигналы от входных пинов по заданным трассам внутри кристалла и выдавали бы их наружу через выходные пины. Однако мне страшно представить тот объем работы, который нужно проделать чтобы получить такой набор тестовых проектов, реализующий полный тест кристалла. К тому же время тестирования одного кристалла может оказаться просто огромным, т.к. может потребоваться перезагрузка не одного десятка тестов.

Пока писал, в голову пришла мысль, что возможно отталкиваясь от статистики отказов построить некоторые качественные тесты, которые бы со значительной долей вероятности показывали исправен-ли кристалл или нет. Но вот беда - я не видел такой статистики. Уверен, что она есть у того же Xilinx'a, но они ее по понятным причинам не раскрывают.


--------------------
BR, Makc
В недуге рождены, вскормлены тленом, подлежим распаду. (с) У.Фолкнер.
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 29th July 2025 - 11:35
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01365 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016