Цитата(dvladim @ Jan 17 2009, 21:51)

1. У меня складывается впечатление, что вы измеряете ток не для ПЛИС, а для всего устройства. Это так?
2. Недурно было бы посмотреть ток в статике. Надо сделать прошивку для ПЛИС, в которой выставить пины так, что бы окружение потребляло как можно меньше (ну если есть pullup, то в 1 и т.д.), посмотреть выводы самого устройства - висящих в воздухе входов быть не должно.
3. 4 В на пинах может быть из-за конструкции выходного буфера, когда он делается не на p и n канальных транзисторах, а на двух n канальных. Правда при этом может подтекать входной буфер схемы или окружение ПЛИС.
4. Температуру мерили в рабочих условиях (на частоте) или в статике? Какая частота? Какая температура в статике? Какая температура с "пустой" прошивкой ПЛИС?
А так вообще для одинаковых условий разброс температуры великоват. ИМХО.
Да, кстати, токи по выводам ПЛИС не текут?
dvladim1 Мы действительно замеряем ток для всего блока, либо для отдельной платы, на которой находится ПЛИС, подпаивыя амперметр на отдельные контактные площадки. Но исследования приводят нас к тому, что основную долю тока потребляет именно ПЛИС.
2 я тоже считаю что это недурно. Надеюсь, что и разработчики согласятся со мной и с Вами
4 температуру мерили в статике. У нас маленькие частоты так что на потребление это не сильно повлияет согласно формуле, приведенной в datasheet на ПЛИС.
Как Вы подразумеваете замерить токи, текущие по выводам ПЛИС? Это вообще реально?
У нас тут другая фишка вскрылась-в "хорошем" канале партия микросхем 2006 года, а в "плохом" 2007. Может быть кто знает, как часто Xilinx меняет технологию производства микросхем, в частности данного семейства. Чем могут отличаться микросхемы разных партий, могут ли быть внутри кристалла серьезные изменения в структуре-укрупнения или уменьшения ячеек, их перестановка? Я где-то читала, что при переходе с 0.6 микрон на 0.5 у пользователей данных микросхем были проблемы. Если программа прошивки создавалась под микросхемы прошлых лет и отрабатывалась на микросхемах старых партий, то ведь сейчас хоть и незначительное изменение в структуре кристалла может привести к тому что прошивка произойдет некорректно и система будет находиться не в оптимальном режиме. Может кто-нибудь с таким сталкивался?