Интересует информация о Bist и ATPG Опции

[Добрый Бяк]

В целях повышения квалификации интересуют вопросы связанные с самотестированием цифровых схем (теория, САПР для синтеза структур) и автоматическое создание тестов. В рунете вообще ничего не нашел, тоже пока не очень успешно. Посоветуйте методическую литературу.

[Andrey.Belousov]

Ok,cпс,буду иметь ввиду. В проекте с которым я разбираюсь скан-цепочки реализованны вручную, изначально для производственного тестирования использовались тестовые вектора сгенерированные из функциональных тестов,сейчас же с помощью ТетраМакс получилось сгенерировать тетсовые вектора более высокого уровня покрытия,и уже ети тестовые вектора будут использоваться для дальнейшего тестирования. Информацию ищу фактически любую,что по ДФТ,что по генерации векторов - ибо на данный момент кроме того что етот проект надо завершить, у меня дипломная работа на эту же тематику.

Создание вручную скан-цепочек было обусловленно попыткой сэкономить место на кристале при синтезе,а так же ввиду использования SPI интерфейса для тестирования,который изначально существует на чипе(то бишь избежать дополнительных пинов и использование JTAG-интерфейса).

Примерно как то так