Цитата
Обычное требование, исторически тянущееся из глубины времён, когда КМОП микросхемы дохли от каждого чиха.
И мне так кажется. Припоминаю, что в ГОСТ-е, определяющем порядок проверки качества прибора через прочность изоляции и сопротивление изоляции, таких исключений не было, было только исключено испытание на прочность изоляции и понижен потолок напряжения, под которым измеряется сопротивление, вроде так. И как удалось разработчику протащить такое исключение в ОТУ, и зачем ему это понадобилось? По-моему, необоснованное и вредное исключение - разработчик одним махом исключает возможность быстрого выявления множества возможных дефектов. В ОТУ таких исключений быть не должно, разве что допускать в ЧТУ, в совсем уж особых случаях.
В самом деле, это какой-то анахронизм: спрашивается, кому нужна такая капризная аппаратура? Что с ней произойдет, если рядом ударит молния? А как быть с ЭМИ? Не зря ведь дискретные полевые транзисторы (ПТ), которые покапризнее, чем КМОП микросхемы, не получили широкого применения в аппаратуре. Кстати, автору следовало бы исключить узлы с ПТ в первую очередь, да вот почему-то не сделал (видать, в том ОСТ-е про ПТ не было сказано).
КМОП микросхемы давно уже не те..., только вот неистребима привычка переписывать требования из старых документов в новые.
Методика проверки сопротивления изоляции, Почему нельзя проверять узлы с микросхемами?
Jun 30 2011, 03:22
