Цитата(loreley @ Sep 16 2011, 00:42)

На сколько я понял, один из способов - измерить расширенные параметры рассеяния, т.е. X-параметры при помощи нелинейного VNA от Agilent , а затем уже например в ADS получить нелинейную модель. Но если такого прибора нет, то как быть в этом случае?
Спасибо.
Если интересен только основной тон, то можете попробовать обмерять транзистор на векторном анализаторе при различных уровнях мощности входного сигнала, а затем сохранить в виде многомероного массива данных (mdif-файла, например) для использования в САПР. Хотя это и не совсем корректно, некоторую зависимость параметров транзистора от мощности Вы получите.