Есть ли документация на русском по данной теме, что бы хотя бы понять возможности: Тестирование, тестопригодность и диагностика
FastScan система автоматической генерации тестов для ASIC и IC с высоким процентом сканирования. Наряду с моделями константных неисправностей FastScan поддерживает модели переходных режимов, сбоев частоты переключения, превышения допустимой задержки и другие модели. Включает статический и динамический алгоритм компрессии тестовых векторов. Опция FastScan CPA генерирует тесты для динамического анализа критических путей. Опция FastScan MacroTest предназначена для тестирования небольших встроенных макросов и схем памяти. Модуль FastScan Diagnostics анализирует тесты, не прошедшие диагностику, на предмет локализации дефектов.
FlexTest система автоматической генерации тестов для несканируемых и частично-сканируемых ASIC и IC.
|