Цитата(ser_aleksey_p @ Oct 13 2011, 21:56)

Не открыть мне в ADS Ваш проект.
Ок. исправляюсь. Прикрепил данные измерения.
Цитата(ser_aleksey_p @ Oct 13 2011, 21:56)

Мысль с измерениями такая же, как и у Вас:
Измеряются в 50-омном тракте, откалиброванном в том числе на ХХ, фаза и модуль КО линии с ХХ. Затем в модели по фазе подстраиваете длину линии, а по модулю - тангенс. Попробуйте. При этом модель перемычки не нужна.
У нас похоже методологические разногласия при измерении. Поэтому я опять повторюсь. Помоему мы друг друга недопонимаем.
Вот моя мысль -
"измерение S11 при предельных значениях исследуемых образцов даст большую погрешность" Предельные значения, в моём понимании, это разомкнутый шлейф, который Вы предлагаете измерять. т.е. измерение разомкнутого щлейфа даст большую погрешность, которая в дальнейшем скажется на результатах моделирования.
Может я неправ?
(Вот только чего то несколько дней сижу в интернете и немогу найти докумен говорящий это. Ищу чтото типа такого - VNA uncertainties of measurements).
В отличии от Вашей методики я измеряю параметры S11, S21 и симметричных им S12, S22 в близи 50Ом.
С остальным полностью согласен.
Цитата(ser_aleksey_p @ Oct 13 2011, 21:56)

Думаю, Вам повезло. Cree получает 0,015.
Скорее всего, Rogers несколько иначе измеряет тангенс.
Вот screen моего проекта.
Могли бы Вы мельком провести EM-моделирование с целью определения возможности влияния позолоты на электрические характеристики микрополоска?
Буду премного благодарен.
Как Вы считаете, основные причины плохого тангенса в моем случае связаны с чем?