Вообще, выводы находятся в соответствии с рекомендациями документа AN2834. Там на стр. 40 приведена точная формула для минимального периода выборок tc (величина, обратная Fs) для случая большой Cext. Только там может сбить с толку фраза "An extra large Cext enables sampling more often". Формула в документе приведена верная, вот только не сказано, что при увеличении Cext величина Fs не может быть сделана сколь угодно большой, так как она стремится к своему пределу, который дает приведенная мной формула.
Поэтому если источник сигнала обладает высоким внутренним сопротивлением Rin, то на вход АЦП нужно подключить большую емкость Cext > Csh * 2^(N+1) (для АЦП STM32F100 получается Cext > 68 нФ) и установить частоту выборок не более предельного значения Fs < 1 / (2^(N+1) * Csh * Rin). Для АЦП STM32F100 получается Fs < 15*10^6 / Rin. Например, для Rin = 100 кОм частота выборок не должна превышать 150 Гц.
Для случая низкоимпедансного источника сигнала (например, выход ОУ), тоже рекомендуется на вход АЦП утанавливать RC-цепочку. Ее назначение - изолировать выход ОУ от входа АЦП с его большими импульсными токами в момент начала выборки. Только в этом случае емкость выбирается значительно меньшей. Рекомендуют порядка 20..50 * Csh, для STM32F100 это около 220..470 пФ. Для получения ошибки меньше 1/2 LSB постоянная времени входной RC-цепочки должна быть в ln(2^(N+1)) раз (для случая 12-разрядного АЦП примерно в 9 раз) меньше времени выборки ts.
Сообщение отредактировал Леонид Иванович - Mar 4 2014, 11:46
--------------------
|