|
Вот столкнулся с некачественной пайкой шин адреса (18 битов) или данных (16 битов), я так думаю. Не вижу, где. Тот тест, что имелся, просто сигналит, что не пройден. У меня просто младшая часть адреса записывалась, а потом читалась. В-общем, если все нормально, то тест проходил. Примитивно. Хочу сделать правильный тест, более информативный. Определить, где адрес или данные неправильные и выдать текстом в последовательный порт. Кто-нибудь делал подобное? Поделитесь соображениями или ссылками.
Оказалось, закоротились два соседних бита данных прямо на плате между переходными отверстиями. Нужно вычислять такие ошибки.
|
Алгоритм теста внешнего статического ОЗУ.
Nov 10 2017, 14:46
